[发明专利]试样观察装置及试样观察方法

说明书

试样观察装置(1)具备：照射光学系统(3)，其对试样(S)照射面状光(L2)；扫描部(4)，其相对于面状光(L2)的照射面(R)扫描试样(S)；成像光学系统(5)，其具有相对于照射面(R)倾斜的观察轴(P2)，将通过面状光(L2)的照射而在试样(S)产生的观察光(L3)成像；图像取得部(6)，其多次取得与由成像光学系统(5)成像的观察光(L3)的光像的一部分对应的部分图像数据；图像生成部(8)，其基于由图像取得部(6)生成的多个部分图像数据而生成试样(S)的观察图像数据。

技术领域

本发明涉及一种试样观察装置及试样观察方法。

背景技术

已知有SPIM(Selective Plane Illumination Microscopy(选择性平面照明显微镜))作为观察细胞等具有三维立体结构的试样的内部的方法之一。例如，专利文献1中记载的断层像观察装置公开了SPIM的基本的原理，将面状光照射于试样，使在试样的内部产生的荧光或散射光在成像面成像并取得试样内部的观察图像数据。

作为使用了面状光的其他的试样观察装置，例如可举出专利文献2中记载的SPIM显微镜。在该现有的SPIM显微镜中，对试样的配置面具有一定的倾斜角地照射面状光，通过具有相对于面状光的照射面正交的观察轴的观察光学系统对来自试样的观察光进行摄像。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开昭62-180241号公报

专利文献2:日本特开2014-202967号公报

发明内容

发明所要解决的课题

在上述的专利文献2中记载的试样观察装置中，通过对观察光学系统的聚焦面的整个面照射面状光，可以通过1次的摄像取得观察轴方向的断层面的图像。因此，为了取得试样的三维信息，需要沿观察轴方向扫描试样，取得观察轴方向的多个断层面的图像。在这种现有的试样观察装置中，直到取得全部的断层面的图像为止，需要反复取得图像的断层面的选择(试样的扫描及停止)和图像取得。另外，在存在有观察对象的区域比摄像区域宽的情况下，除了取得观察轴方向的截面图像的动作以外，还需要向与观察轴方向不同的方向移动平台来选择摄像视野的动作等。因此，直到取得观察图像数据为止需要时间成为技术问题。

实施方式的目的在于，提供一种试样观察装置及试样观察方法。

解决课题的技术手段

实施方式的一方面所涉及的试样观察装置具备：照射光学系统，其对试样照射面状光；扫描部，其相对于面状光的照射面扫描试样；成像光学系统，其具有相对于照射面倾斜的观察轴，将通过面状光的照射而在试样产生的观察光成像；图像取得部，其多次取得与通过成像光学系统成像的观察光的光像的一部分对应的部分图像数据；图像生成部，其基于通过图像取得部生成的多个部分图像数据而生成试样的观察图像数据。

在该试样观察装置中，相对于面状光的照射面扫描试样，另外，相对于面状光的照射面，成像光学系统的观察轴倾斜。因此，在图像取得部中，能够依次取得面状光的光轴方向上的断层面的部分图像数据，在图像生成部中，能够基于多个部分图像数据生成试样的观察图像数据。在该试样观察装置中，不需要视野选择动作，可以同时进行试样的扫描和图像取得，因此，能够实现直到取得观察图像数据为止的吞吐量的提高。

另外，也可以是试样由具有面状光的输入面的试样容器保持，照射光学系统的面状光的光轴以相对于试样容器的输入面正交的方式配置。在该情况下，可以利用试样容器一次扫描多个试样。另外，通过使面状光的光轴相对于试样容器的输入面正交，不需要由图像取得部取得的部分图像数据的位置修正等，能够将观察图像数据的生成处理容易化。