[发明专利]使用稀疏体积数据的操作在审

专利信息
申请号: 201780063371.6 申请日: 2017-08-19
公开(公告)号: CN110392902A 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: D·M·莫洛尼;J·D·拜恩 申请(专利权)人: 莫维迪厄斯有限公司
主分类号: G06T15/06 分类号: G06T15/06;G06T1/60;G06T7/50;G06T19/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李炜;钱慰民
地址: 荷兰*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 体素 数据结构 层次表示 组位 条目 几何结构 体积数据 指示体 占据 建模 稀疏
【权利要求书】:

1.一种装置,包括:

数据处理装置;

存储器,用于存储来自存储器的体积数据结构,其中,所述体积数据结构用于对特定体积建模,所述体积数据结构以多个细节层次表示所述特定体积,所述体积数据结构中的第一条目包括以第一细节层次表示体素的第一组位,所述第一细节层次包括所述体积数据结构中的最低细节层次,所述第一组位的值指示所述体素中的相应的一个体素是否至少部分地由对应的几何结构占据,其中,所述体积数据结构进一步包括以高于所述第一细节层次的第二细节层次表示体素的多个第二条目,处于所述第二细节层次的体素表示由处于所述第一细节层次的体素表示的体积的子体积,并且所述第二条目的数量与所述第一组位中具有指示相应的体素体积被占据的值的位的数量相对应;以及

电路,用于使用所述体积数据结构来执行一个或多个操作,其中,所述操作与在所述特定体积内对所述几何结构的识别相对应。

2.如权利要求1所述的装置,其中,所述第一条目以及一个或多个第二条目包括所述体积数据结构内的连续条目。

3.如权利要求2所述的装置,其中,子体积包括第一子体积,所述第二条目包括用于指示处于所述第二细节层次的相应体素是否由几何结构占据的值,所述体积数据结构进一步包括一个或多个第三条目,所述一个或多个第三条目以高于所述第二细节层次的第三细节层次表示体素,处于所述第三细节层次的体素表示由处于所述第二细节层次的体素表示的所述第一子体积的子体积,并且第三条目的数量与所述第二组位中具有指示相应的体素体积被占据的值的位的数量相对应,其中,所述第三条目与所述体积数据结构中的所述第二条目中的最后一个第二条目是连续的。

4.如权利要求3所述的装置,进一步包括用于以下操作的逻辑:基于所述第一组位中具有指示处于所述第一细节层次的相应体素体积被占据的值的位的数量来确定所述第三层次的开始。

5.如权利要求1-4中的任一项所述的装置,其中,处于所述第一细节层次的每个体素由所述第一条目中的两个或更多个对应的位表示。

6.如权利要求1-5中任一项所述的装置,进一步包括用于以下操作的逻辑:

确定与所述特定体积相交的光线;

确定处于所述第一细节层次的体素的、所述光线穿过其的子集;

基于所述第一条目中指示特定体素由几何结构占据的相应位的值来确定所述光线与表示被占据的空间的体素的子集中的所述特定体素相遇。

7.如权利要求6所述的装置,其中,所述逻辑进一步用于:

基于确定了所述光线与所述特定体素相遇而标识所述第二条目中与所述特定体素相对应的特定的一个第二条目;

确定所述光线穿过处于所述第二细节层次的体素的子集;以及

从所述特定的第二条目中的位的值来判定所述光线是否与处于所述第二细节层次的由几何结构占据的体素相遇。

8.如权利要求6所述的装置,其中,所述操作包括:至少部分地基于判定了所述光线与所述特定体素相遇而检测移动设备的潜在碰撞。

9.如权利要求6所述的装置,其中,所述操作包括:确定与所述光线同所述特定体素相遇相对应的音频反射。

10.如权利要求9所述的装置,其中,所述体积数据结构进一步包括指示占据所述特定体素的所述几何结构的反射系数的数据,并且所述音频反射至少部分地基于所述反射系数。

11.如权利要求9-10中任一项所述的装置,进一步包括滤波器生成逻辑,所述滤波器生成逻辑用于至少部分地基于确定了所述音频反射来生成有限脉冲响应(FIR)滤波器。

12.如权利要求1-11中的任一项所述的装置,其中,所述操作包括识别所述特定体积中的空体素的集合,并且所述装置进一步包括路径查找逻辑,所述路径查找逻辑用于确定穿过与所述空体素的集合相对应的特定体积的自由路径。

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