[发明专利]用于样品的分析检查的测试元件分析系统

权利要求书

1.一种用于样品的分析检查的测试元件分析系统（110），所述测试元件分析系统包括测量装置（112），所述测量装置（112）包括用于至少部分地接收至少一个测试元件（116）的测试元件接受器（114），其中，所述测试元件接受器（114）包括至少一个第一部分（118）和至少一个第二部分（120），其中，所述第一部分（118）包括用于置放所述测试元件（116）的至少一个支撑表面（144），其中，所述第二部分（120）包括至少一个光学检测器（128），所述光学检测器用于检测在所述测试元件（116）中包含的至少一种测试化学物质（154）的至少一种检测反应，其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）移动，其中，所述测试元件接受器（114）配置成将所述第二部分（120）定位在至少一个位置中，使得测试元件（116）能够被插入到所述测试元件接受器（114）中，且随后将所述第二部分（120）定位在关闭位置（182）中，使得所述第二部分（120）的至少一个邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上，其中，所述测试元件分析系统（110）还包括至少一个促动器（132），所述促动器用于驱动所述第一部分（118）和所述第二部分（120）的相对移动，其中，所述促动器（132）配置成用于执行预定的移动序列，从而将所述第二部分（120）顺序地带到至少两个位置中，其中，所述促动器（132）配置成用于分别在至少两个位置中的一个中停止移动，并且其中，所述促动器（132）配置成使所述第二部分（120）朝向所述第一部分（118）移动，且一旦所述第二部分（120）静止在所述测试元件（116）上就断开联接，其中，由于所述促动器（132）的断开联接，由所述第二部分（120）的重量限定接触压力。

2.根据权利要求1所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（120）还包括至少一个对准销（170），所述至少一个对准销用于与所述测试元件（116）的至少一个对准孔（172）接合。

3.根据权利要求1或2所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）包括至少一个透镜元件（188），其中，所述邻接表面（184）位于以下中的一者或两者中：所述透镜元件（188）的焦平面（190）、所述光学检测器（128）的基本上理想的物平面。

4.根据权利要求3所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）包括至少一个光源和至少一个光电检测器（186），其中，所述透镜元件（188）位于所述至少一个光源或所述至少一个光电检测器（186）中的一者或两者的前方。

5.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述光学检测器（128）被固定地定位在所述第二部分（120）内。

6.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述第二部分（120）能够相对于所述第一部分（118）沿基本上垂直于所述支撑表面（144）的方向（178）移动。

7.根据权利要求1或2中的任一项所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试元件分析系统（110）还包括至少一个测试元件（116），所述测试元件具有至少一个载体（150）和至少一种测试化学物质（154），以用于在存在被包含于所述样品中的分析物的情况下执行至少一种检测反应。

8.根据权利要求7所述的测试元件分析系统（110），其中，所述测试化学物质（154）是干燥测试化学物质（156）。

9.根据权利要求7所述的测试元件分析系统（110），其中，当所述邻接表面（184）静止在所述测试元件（116）上时，所述邻接表面（184）平坦地静止在所述载体（150）上。

10.根据权利要求7所述的测试元件分析系统（110），其中，当所述第二部分（120）相对于所述第一部分（118）移动时，所述邻接表面（184）总是平行于所述第一部分（118）的支撑表面（144）。