[发明专利]用于测量织机中经纱张力的测量设备和带有这种测量设备的织机有效
申请号: | 201780064919.9 | 申请日: | 2017-10-19 |
公开(公告)号: | CN109844198B | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | D.奥伯迈尔;M.菲比希 | 申请(专利权)人: | 林道尔·多尼尔有限责任公司 |
主分类号: | D03D49/18 | 分类号: | D03D49/18;D03D49/12 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 方莉;李雪莹 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 织机 经纱 张力 设备 带有 这种 | ||
本发明涉及一种在用于测量织机(1)中经纱张力的设备(2),该设备包含:具有两个端部(17a、17b)的、构造成转向元件(17)的测量元件,织机(1)的经纱(5)能通过该转向元件引导;测力机构(18);以及以能围绕位置固定的转动点(19)转动的方式支承在织机(1)的机架(20)上的杠杆(21)。测力机构(8)能借助该杠杆被测量元件加载。转向元件(17)用其两个端部(17a、17b)中的一个端部支承在杠杆(21)上并且用其两个端部(17a、17b)中的另一个端部不能运动地支承在织机(1)的机架(20)上。本发明还涉及一种织机(1),该织机带有机架(20)以及带有至少一个用于输送经纱(5)的设备(3),所述织机具有至少一个沿经向布置在用于输送经纱(5)的设备(3)的下游的、包括作为测量元件的转向元件(17)的用于测量经纱张力的设备(2)。
技术领域
本发明涉及一种用于测量织机中经纱张力的测量设备,该测量设备带有具有两个端部的、构造成转向元件的测量元件,织机的经纱能通过该转向元件导引。此外,所述测量设备包括测力机构以及以能围绕位置固定的转动点转动的方式支承在织机的机架上的杠杆,测力机构能通过该杠杆被测量元件加载。此外,本发明涉及带有这种测量设备的相应的织机。
背景技术
经纱张力传感器使用在织机中,以便在织造过程中保持用于均匀地形成织物和特别是用于避免经纱断裂所需的均匀的经纱张力。在此通常通过能相应地驱动的送经机构控制或调节经纱张力,送经机构通过织机控制依据经纱张力传感器的信号来调节。
为了测量织机上的经纱张力,在现有技术中已经公知不同的方法和设备。主要得以实现的是一种测量方法,在该测量方法中,确定了经纱施加到能振荡地运动的或者能振动地支承在织机上的后梁上的力。这种后梁布置在织机上,以便均衡经纱内基于交替的梭口形成的拉力变化。后梁为了均衡梭口交替期间的经纱张力而周期性地运动,这可能被动地通过后梁的弹性支承达到或者也主动地通过相应地驱动后梁达到。基于后梁的能振动的支承,这种后梁尤为良好地适用于检测经纱张力的变化。
例如在EP 2 584 079 A1中描述了一种经纱张力传感器,该经纱张力传感器带有能横向于其纵轴线振荡地运动的或振动的后梁。能振动的后梁在此通过杠杆与测力机构连接,测力机构本身牢固地布置在机架上。通过经纱作用到后梁上的力,通过杠杆传递到测力机构上。这种实施方案的缺陷在于,基于在后梁上运行的经纱以及基于织造过程的反作用,在掠过辊(Streichwalze)上并且因此也在测力机构上出现了振动,所述振动可能会歪曲测量结果。此外,基于通过经纱作用到后梁上的巨大的力,需要将这个后梁设计得较为坚实,这基于因此而更高的惯性同样会使经纱张力的准确测量变得困难。
发明内容
因此本发明的任务是,提出一种用于测量织机中经纱张力的测量设备,该测量设备实现了更为准确的测量。此外应提出一种带有这种测量设备的相应的织机。
该任务用独立权利要求的特征解决。
用于测量织机中经纱张力的测量设备,该测量设备带有具有两个端部的、构造成转向元件的测量元件,织机的经纱能通过该转向元件引导,所述测量设备具有测力机构以及以能围绕位置固定的转动点转动的方式支承在织机的机架上的杠杆,测力机构能通过所述杠杆被测量元件加载。规定,转向元件用其两个端部中的一个端部支承在所述杠杆中并且用另一个端部不能运动地支承在机架上。通过将转向元件用其一个端部支承在杠杆上,同时使该转向元件在这个端部上能运动地支承在机架上。由此一方面实现了转向元件能受限制地在机架内运动,因而可以通过测力机构记录经纱张力的变化。但不同于迄今为止作为测量元件使用的掠过辊,所述转向元件是不能振动的,而是牢固地支承在机架上,这造成了干净得多的测量信号。因此可以更好地评估所获得的测量结果并且将对织造过程有利的经纱张力保持恒定。在这种实施方案中还有利的是,基于转向元件在机架内的单侧固定的支承,可以将所出现的经纱力的一部分直接导出到机架上并且所述力的仅一部分通过测力机构引导。由此也进一步改善了测量结果的精度。同时用于测量经纱张力的测量设备的组件因此遭受了较小的负荷。
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