[发明专利]磁记录介质用溅射靶有效
申请号: | 201780067434.5 | 申请日: | 2017-10-11 |
公开(公告)号: | CN109923610B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 金光谭;栉引了辅;山本俊哉;齐藤伸;日向慎太朗 | 申请(专利权)人: | 田中贵金属工业株式会社;国立大学法人东北大学 |
主分类号: | G11B5/851 | 分类号: | G11B5/851;C22C5/04;C22C19/07;C22C32/00;C23C14/06;C23C14/34;G11B5/65 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 鲁雯雯;金龙河 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 介质 溅射 | ||
1.一种磁记录介质用溅射靶,其含有金属Pt和氧化物,余量由金属Co和不可避免的杂质构成,所述磁记录介质用溅射靶的特征在于,
相对于所述磁记录介质用溅射靶的金属成分的合计,含有70原子%以上且90原子%以下的金属Co,含有10原子%以上且30原子%以下的金属Pt,
相对于所述磁记录介质用溅射靶的整体,含有26体积%以上且40体积%以下的所述氧化物,
并且,所述氧化物由B2O3和熔点为1470℃以上且2800℃以下的一种以上的高熔点氧化物构成。
2.一种磁记录介质用溅射靶,其含有金属Pt、金属Cr和氧化物,余量由金属Co和不可避免的杂质构成,所述磁记录介质用溅射靶的特征在于,
相对于所述磁记录介质用溅射靶的金属成分的合计,含有70原子%以上且小于90原子%的金属Co,含有10原子%以上且小于30原子%的金属Pt,含有多于0原子%且10原子%以下的金属Cr,
相对于所述磁记录介质用溅射靶的整体,含有26体积%以上且40体积%以下的所述氧化物,
并且,所述氧化物由B2O3和熔点为1470℃以上且2800℃以下的一种以上的高熔点氧化物构成。
3.如权利要求1所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,
所述B2O3相对于所述一种以上的高熔点氧化物的合计的体积比为0.5以上且4以下。
4.如权利要求2所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,
所述B2O3相对于所述一种以上的高熔点氧化物的合计的体积比为0.5以上且4以下。
5.如权利要求1~4中任一项所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,所述一种以上的高熔点氧化物为选自由TiO2、SiO2、Ta2O5、Cr2O3、Al2O3和ZrO2组成的组中的一种以上的氧化物。
6.如权利要求5所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,所述一种以上的高熔点氧化物为TiO2。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于田中贵金属工业株式会社;国立大学法人东北大学,未经田中贵金属工业株式会社;国立大学法人东北大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780067434.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于音调轨道生成的众包技术
- 下一篇:用于功率高效驱动电路的设备及方法