[发明专利]磁记录介质用溅射靶有效

专利信息
申请号: 201780067434.5 申请日: 2017-10-11
公开(公告)号: CN109923610B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 金光谭;栉引了辅;山本俊哉;齐藤伸;日向慎太朗 申请(专利权)人: 田中贵金属工业株式会社;国立大学法人东北大学
主分类号: G11B5/851 分类号: G11B5/851;C22C5/04;C22C19/07;C22C32/00;C23C14/06;C23C14/34;G11B5/65
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 鲁雯雯;金龙河
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 记录 介质 溅射
【权利要求书】:

1.一种磁记录介质用溅射靶,其含有金属Pt和氧化物,余量由金属Co和不可避免的杂质构成,所述磁记录介质用溅射靶的特征在于,

相对于所述磁记录介质用溅射靶的金属成分的合计,含有70原子%以上且90原子%以下的金属Co,含有10原子%以上且30原子%以下的金属Pt,

相对于所述磁记录介质用溅射靶的整体,含有26体积%以上且40体积%以下的所述氧化物,

并且,所述氧化物由B2O3和熔点为1470℃以上且2800℃以下的一种以上的高熔点氧化物构成。

2.一种磁记录介质用溅射靶,其含有金属Pt、金属Cr和氧化物,余量由金属Co和不可避免的杂质构成,所述磁记录介质用溅射靶的特征在于,

相对于所述磁记录介质用溅射靶的金属成分的合计,含有70原子%以上且小于90原子%的金属Co,含有10原子%以上且小于30原子%的金属Pt,含有多于0原子%且10原子%以下的金属Cr,

相对于所述磁记录介质用溅射靶的整体,含有26体积%以上且40体积%以下的所述氧化物,

并且,所述氧化物由B2O3和熔点为1470℃以上且2800℃以下的一种以上的高熔点氧化物构成。

3.如权利要求1所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,

所述B2O3相对于所述一种以上的高熔点氧化物的合计的体积比为0.5以上且4以下。

4.如权利要求2所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,

所述B2O3相对于所述一种以上的高熔点氧化物的合计的体积比为0.5以上且4以下。

5.如权利要求1~4中任一项所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,所述一种以上的高熔点氧化物为选自由TiO2、SiO2、Ta2O5、Cr2O3、Al2O3和ZrO2组成的组中的一种以上的氧化物。

6.如权利要求5所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,所述一种以上的高熔点氧化物为TiO2

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