[发明专利]用于确定两相流负载的微波测量装置有效

专利信息
申请号: 201780067822.3 申请日: 2017-10-27
公开(公告)号: CN109906369B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 汉斯·格奥尔格·康拉兹;克里斯蒂安·迪普涅;塞奥佐罗斯·缇弗缇蒂斯 申请(专利权)人: 普美康过程测量控制有限公司
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06;G01F1/66;G01F1/74
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 德国巴*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 确定 两相 负载 微波 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种用于确定两相流负载的微波测量装置,包括:

管或通道系统(1)中的具有小的和非常小的固体和/或液体颗粒的气态载体介质,

用于耦合线性极化微波的发射天线(2)和接收天线(3),它们在具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的直导电区段(F)的纵向方向上彼此相互间隔地布置并且形成测量区段(S)并且承载所述两相流,以及

导电杆,称为场杆(4,4'),布置在,具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的所述纵向方向上的所述测量区段(S)之前和所述测量区段(S)之后并且与所述测量区段(S)对准,并且在具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的直导电区段(F)的相应横截面区域(5,5')内延伸到所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的内部,使得所述场杆(4,4')和所述场杆(4,4')之间的具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)用作耦合的线性极化微波的共振器,

其特征在于,两对导电杆,称为辅助场杆对(6,7和6',7'),每对辅助场杆均与每个场杆(4,4')相关联并且从所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的内壁径向延伸,至少突出到所述横截面区域的中心并且在所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的纵向方向上相对于彼此对准,布置在其中所述场杆(4,4')延伸的所述横截面区域(5,5')中,或者在邻近,与具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)具有小距离(G)的横截面区域(5,5')中,每对辅助场杆(6,7或6',7')的每个辅助场杆(6或7或6'或7')相对于所述场杆(4,4')呈的角度为a=+45°±10°和/或a=-45°±10°和/或a=+135°±10°和/或α=-135°±10°布置,其中与场杆(4,4')相关联的每对辅助场杆的两个所述辅助场杆(6,7或6',7')围成90°±20°的角度,并且其中每对辅助场杆(6,7或6'、7')与所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)导电连接。

2.根据权利要求1所述的微波测量装置,其特征在于,所述场杆(4,4')布置在所述测量区段(S)之前和之后并且与所述发射天线或接收天线(2、3)间隔开波导基波的波长的至少十分之一,并且彼此间隔开的距离介于所述波长一倍的距离和具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的所述波导基波波长的两倍之间,在耦合微波的极化平面中并且在具有恒定横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的纵向方向上,与所述发射天线和接收天线(2、3)对准,从所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的内壁径向突出至少到所述横截面区域(5,5')的中心,以及与所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)导电连接。

3.根据权利要求2所述的微波测量装置,其特征在于,与在具有恒定横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段的纵向方向上的场杆(4,4')相关联的每对辅助场杆的两个所述辅助场杆(6,7或6',7')的距离(G)至多是具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的所述波导基波的波长的十分之一。

4.根据权利要求1所述的微波测量装置,其特征在于,所述辅助场杆(6,7、6',7')跨越具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的横截面区域的至少一半,因此穿过所述横截面区域的中心。

5.根据权利要求1所述的微波测量装置,其特征在于,每对辅助场杆的所述辅助场杆(6,7或6',7')跨越具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的横截面区域的至少三分之二,因此穿过所述横截面区域的中心。

6.根据权利要求1所述的微波测量装置,其特征在于,每对辅助场杆的所述辅助场杆(6,7或6',7')的长度对应于所述场杆(4、4')的长度。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普美康过程测量控制有限公司,未经普美康过程测量控制有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780067822.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top