[发明专利]放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法有效

专利信息
申请号: 201780068105.2 申请日: 2017-10-03
公开(公告)号: CN109923403B 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 佐藤真 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 放射线 断层 摄影 装置 摄像 倍率 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法,用于对放射线断层摄影装置的摄像倍率进行校正,该放射线断层摄影装置具备:

射线源,其用于照射放射线;

工作台,其用于载置对象物,能够绕旋转中心轴的轴心进行旋转,且能够沿所述放射线的照射轴方向在作为摄影位置的第一部位与不同于所述第一部位的第二部位之间进行直行移动;以及

放射线检测器,其与所述射线源隔着所述工作台而相向配置,

所述放射线断层摄影装置通过使所述工作台绕所述旋转中心轴的轴心进行旋转来获得多个投影像,从而生成CT图像,

所述放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法的特征在于,

基于(a)所述第一部位处的所述工作台上的所述对象物的投影像的大小及所述第二部位处的所述工作台上的所述对象物的投影像的大小、以及(b)所述第一部位处的所述工作台的所述旋转中心轴与所述第二部位处的所述工作台的所述旋转中心轴之间的距离,或者基于(a)所述第一部位处的所述工作台上的所述对象物的CT图像的大小及所述第二部位处的所述工作台上的所述对象物的CT图像的大小、以及(b)所述第一部位处的所述工作台的所述旋转中心轴与所述第二部位处的所述工作台的所述旋转中心轴之间的距离,来求出所述射线源的焦点与所述第一部位处的所述工作台的所述旋转中心轴之间的距离SRD,

并且通过将所述求出的距离SRD与下述(c)的距离相加,来求出所述射线源的焦点与所述放射线检测器之间的距离SDD,其中,所述(c)的距离是所述放射线检测器与所述第一部位处的所述工作台的所述旋转中心轴之间的距离,

将这些求出的距离SRD和距离SDD的比率设为所述第一部位处的摄影的摄像倍率。

2.根据权利要求1所述的放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法,其特征在于,

所述(c)的距离等于校正时刻t的距离SDD与该校正时刻t的距离SRD之差,

通过对设该差等于在比校正时刻t靠前的时间点进行校正得到的SDD与在该时间点进行校正得到的SRD之差的方程式进行求解,来分别求出距离SRD和距离SDD。

3.根据权利要求1或2所述的放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法,其特征在于,

所述投影像或所述CT图像是在被检体的断层摄影时的前后得到的图像。

4.根据权利要求1或2所述的放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法,其特征在于,

所述CT图像是与被检体的断层摄影同时得到的校正用器具的图像。

5.根据权利要求1或2所述的放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法,其特征在于,

所述投影像是将校正用器具以相对于所述旋转中心轴的相对位置已知的方式载置于所述工作台后使用所述放射线检测器拍摄到的所述校正用器具的投影像,

通过包括所述(a)的所述第一部位处的所述工作台上的所述校正用器具的投影像的大小及所述第二部位处的所述工作台上的所述校正用器具的投影像的大小、以及所述(b)的距离的几何运算来求出距离SRD,

并且通过将该求出的距离SRD与所述(c)的距离相加来求出距离SDD。

6.根据权利要求1或2所述的放射线断层摄影装置的摄像倍率校正方法,其特征在于,

为了基于所述(a)的图像的大小和所述(b)的距离求出距离SRD,

根据在所述第一部位处将校正用器具载置于所述工作台后使用所述放射线检测器进行断层摄影所得到的CT图像中拍进的所述校正用器具的像素坐标,来求出所述校正用器具相对于所述旋转中心轴的相对位置,

所述投影像是使用所述放射线检测器拍摄到的所述校正用器具的投影像,

通过包括所述(a)的所述第一部位处的所述工作台上的所述校正用器具的投影像的大小及所述第二部位处的所述工作台上的所述校正用器具的投影像的大小、所述(b)的距离以及(d)所述校正用器具相对于所述旋转中心轴的相对位置的几何运算,来求出距离SRD,

并且通过将该求出的距离SRD与所述(c)的距离相加来求出距离SDD。

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