[发明专利]MOS构件、电路和用于机动车的电池单元在审

专利信息
申请号: 201780069717.3 申请日: 2017-09-13
公开(公告)号: CN109923646A 公开(公告)日: 2019-06-21
发明(设计)人: J·朱斯;W·冯埃姆登 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L29/788;H01L29/792
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 单层 沟道区 栅极元件 等效氧化物 存储电荷 电池单元 电绝缘 漏极区 源极区 栅极区 构型 体区 机动车 电路
【权利要求书】:

1.一种MOS构件(2),其具有栅极元件(12)和沟道区(10),其中,在所述栅极元件(12)与所述沟道区(10)之间布置有电绝缘层,所述电绝缘层由至少三个单层(14,16,18)构成,其中,与所述栅极元件(12)邻接的第一单层(14)由电绝缘材料构成,既不与所述栅极元件(12)邻接也不与所述沟道区(10)邻接的第二单层(16)是存储层,所述存储层适用于永久地存储电荷,并且与所述沟道区(10)邻接的第三单层(18)由电绝缘材料构成,其特征在于,与布置在所述第二单层(16)与所述栅极区(12)之间的单层的等效氧化物厚度的整体相比,布置在所述沟道区(10)与所述第二单层(16)之间的单层的整体具有更大的等效氧化物厚度。

2.根据权利要求1所述的MOS构件(2),其中,布置在所述栅极元件(12)与所述沟道区(10)之间的所有单层(14,16,18)的总的等效氧化物厚度处于15nm至25nm之间、优选18nm至22nm之间、特别优选19nm至21nm之间。

3.根据权利要求1或2所述的MOS构件(2),其中,所述第二单层实施成浮栅(20)。

4.根据以上权利要求中任一项所述的MOS构件(2),其中,所述第二单层(16)具有8nm至12nm之间的、优选9nm至11nm之间的、特别优选9.5nm至10.5nm之间的厚度。

5.根据以上权利要求中任一项所述的MOS构件(2),其中,在将编程电压施加到所述栅极元件(12)上时,所述编程电压的量值是15至25V、优选18至22V、特别优选19至21V,电荷从所述栅极元件(12)隧穿到所述第二单层(16)中或从所述第二单层(16)隧穿到所述栅极元件(12)中,而同时没有电荷从所述第二单层(16)隧穿到所述沟道区(10)中或从所述沟道区(10)隧穿到所述第二单层(16)中。

6.根据以上权利要求中任一项所述的MOS构件(2),其中,具有100μs至1ms之间的长度的电压脉冲(34)形式的编程电压足以通过隧穿电流如此改变所述第二单层(16)中的电荷,使得所述MOS构件(2)永久地从截止状态转换为导通状态,或者反之亦然。

7.根据以上权利要求中任一项所述的MOS构件(2),其中,所述第二单层(16)在所述MOS构件(2)的输送状态中被预充电。

8.根据以上权利要求中任一项所述的MOS构件(2),其中,所述MOS构件(2)能够用作反保险丝。

9.一种电路(44),所述电路具有ASIC(30)和根据以上权利要求中任一项所述的MOS构件(2)。

10.一种用于机动车的电池单元,所述电池单元具有根据以上权利要求中任一项所述的MOS构件(2)或电路(44)。

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