[发明专利]用于确定检测器单元的剩余运行时段的方法

权利要求书

1.一种用于确定用于辐射测量、密度或填充水平测量装置(2)的检测器单元(1)的剩余运行时段(Δt_B，r)的方法，其中，所述检测器单元(1)包括至少一个具有可控放大因子(A)的光电倍增管(12)，其中，所述检测器单元(1)还包括控制评估单元(13)，

其中，所述控制评估单元(13)利用控制电压(V_a)来控制所述光电倍增管(12)，并且

其中，所述方法包括如下方法步骤：

-在至少一个预定的时间段(dt)内记录控制电压(V_a)，

-基于在所述预定的时间段(dt)内记录的控制电压(V_a)来确定时间变化率函数(dV_a/dt)，

-利用所述时间变化率函数(dV_a/dt)和当前运行时间(t_B，a)处存在的当前控制电压(V_a，a)来计算直到达到最大控制电压(V_a，max)为止的剩余运行时间(Δt_B，r)。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述利用控制电压(V_a)来控制所述光电倍增管(12)是以使放大因子(A)恒定的方式进行的。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，利用控制电压(V_a)在所述预定的时间段(dt)内的回归来确定变化率函数(dV_a/dt)。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，最小二乘法被应用用于执行所述回归和/或用于确定合适的回归类型。

5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的方法，其中，所述控制电压(V_a)被记录为温度补偿的。

6.根据权利要求1至4中的任意一项所述的方法，其中，所述预定的时间段(dt)在所述检测器单元(1)的整个运行时间上延伸到所述当前运行时间(t_B，a)。

7.根据权利要求1至4中的任意一项所述的方法，其中，所述预定的时间段(dt)是恒定的并且终止于所述当前运行时间(t_B，a)。

8.根据权利要求1至4中的任意一项所述的方法，其中，当所述变化率函数(dV_a/dt)的至少一个参数改变超过预定义的极限值时，或者当所述变化率函数(dV_a/dt)的回归类型改变时，创建报告。

9.根据权利要求1至4中的任意一项所述的方法，其中，至少在所述预定的时间段(dt)内，以预定的时间间隔，来执行记录控制电压(V_a)。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述预定的时间间隔是大于一天的时间间隔。

11.一种用于辐射测量、密度或填充水平测量装置(2)的检测器单元，所述检测器单元用于执行前述权利要求1至10中的任意一项所述的方法，包括：

-闪烁体(11)，

-光电倍增管(12)，所述光电倍增管(12)与所述闪烁体(11)光学耦合并具有可控的放大因子(A)，以及

-控制评估单元(13)。

12.根据权利要求11所述的检测器单元，其中，所述控制评估单元(13)执行记录控制电压(V_a)和/或确定时间变化率函数(dV_a/dt)和/或计算剩余运行时段(Δt_B，r)。

13.根据权利要求11或12所述的检测器单元，还包括：

-显示单元，所述显示单元用于显示剩余运行时段(Δt_B，r)。