[发明专利]用于检测和/或检查圆柱形部件表面上的磨耗的设备和方法有效
申请号: | 201780069995.9 | 申请日: | 2017-11-10 |
公开(公告)号: | CN109997202B | 公开(公告)日: | 2023-01-10 |
发明(设计)人: | 沃尔夫冈·赫梅尔 | 申请(专利权)人: | 法马通股份有限公司 |
主分类号: | G21C17/06 | 分类号: | G21C17/06;G01B11/24 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 许伟群;郭放 |
地址: | 德国埃*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 检查 圆柱形 部件 表面上 磨耗 设备 方法 | ||
1.一种用于检测和/或检查圆柱形部件(8)的表面上的磨耗的设备(2),该设备包括:
-光源(10),其用于将光投射到所述圆柱形部件(8)的表面区域(6)上,其中该光源(10)是裂隙灯,其在光束平面(E)中发射光,并且所述光源(10)关于所述圆柱形部件(8)被布置成,使得所述光束平面(E)被垂直于所述圆柱形部件(8)的纵轴(L)定向,以及
-图像检测单元(12),用于检测所述表面区域(6)的图像,光被投射在所述表面区域上,和/或用于检查所述圆柱形部件(8)的所述表面区域(6),其中所述图像检测单元(12)的光轴(A)与所述光源(10)的光束平面(E)成角度(α)地定向,
其特征在于,所述设备(2)具有
-评估单元,用于基于图像中检测到的所述表面区域(6)的实际表面与所述圆柱形部件(8)的理想圆柱形表面的偏离来确定磨耗(4)的程度,其中所述评估单元被设立用基于在图像中检测的无磨耗的子部分(22a')来确定在额定状态中对所述圆柱形部件(8)的表面进行成像的函数。
2.根据权利要求1所述的设备(2),其中所述圆柱形部件是核电站的棒状部件。
3.根据权利要求2所述的设备(2),其中所述棒状部件是燃料棒、控制棒、中子源棒、吸收棒和/或喷枪。
4.根据权利要求1所述的设备(2),其中所述图像检测单元(12)是相机。
5.根据权利要求1所述的设备(2),其中所述图像检测单元(12)关于所述光源(10)被布置成,使得所述图像检测单元(12)的光轴(A)至所述光束平面(E)上的垂直投影(MB)与所述光源(10)的光束平面(E)的中心纵轴(ML)重合地延伸。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的设备(2),其中所述图像检测单元(12)能布置得与所述圆柱形部件(8)隔有距离(s)和/或能布置得与所述光束平面(E)隔有距离(h),使得光投射到其上的表面区域(6)和/或所述圆柱形部件(8)在垂直于其纵轴(L)定向的横向方向(Q)上能够完全成像在所述图像检测单元(12)的图像中。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的设备(2),其中所述光源(10)和所述图像检测单元(12)被布置在壳体(14)内,该壳体在所述图像检测单元(12)的视场中和/或沿着由所述光源(10)发射的光的光束平面(E)具有开口(18)和/或透光区域。
8.一种用于检测和/或检查圆柱形部件(8)的表面上的磨耗(4)的方法,其中利用光源(10)产生光并且投射到所述圆柱形部件(8)的表面区域(6)上,并且其中图像检测单元(12)检测所述圆柱形部件(8)的光被投射在其上的表面区域(6)的图像,
其中所述光源(10)是裂隙灯,其在光束平面(E)中发射光,并且所述光束平面(E)垂直于所述圆柱形部件(8)的纵轴(L)地定向,并且其中所述图像检测单元(12)的光轴(A)与所述裂隙灯的光束平面(E)成角度(α)地定向,
以及其中,基于图像中检测到的所述表面区域(6)的实际表面与所述圆柱形部件(8)的理想圆柱形表面的偏离来确定磨耗(4)的程度,其中用所述光源(10)照射和用所述图像检测单元(12)检测的表面区域(6)具有至少一个无磨耗的子部分(22a),以及其中通过评估单元基于在图像中检测的子部分(22a')来确定在额定状态中对所述圆柱形部件(8)的表面进行成像的函数。
9.根据权利要求8所述的方法,其中在所述图像检测单元(12)的图像中在垂直于所述纵轴(L)定向的横向方向(Q)上完全检测所述光被投射到其上的表面区域(6)和/或所述圆柱形部件(8)。
10.根据权利要求8或9所述的方法,其中在额定状态中进行成像的函数是椭圆函数。
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