[发明专利]分光测量装置和分光测量系统

说明书

分光测量装置对被测量物照射光并对与该照射相应地从被测量物输出的测量光进行测量，分光测量装置包括：第1框体，其收纳射出光的光源，形成有由光源射出的光通过的第1开口，具有遮光性；第2框体，其形成有测量光通过的第2开口，收纳接收通过了第2开口的测量光的分光器，具有遮光性；和将第1框体与第2框体可相对旋转地连结的臂部件，臂部件的基端侧可旋转地连结于第2框体，在臂部件的前端侧安装有第1框体。

技术领域

本发明的一个方式涉及分光测量装置和分光测量系统。

背景技术

作为现有的分光测量装置，例如已知有专利文献1中记载的装置。在专利文献1中记载的装置中，向载置在试样台的试样(被测量物)照射光，并利用积分球对与该照射相应地在试样反射的反射光进行检测，测定试样的光学特性。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第3446120号公报

发明内容

发明所要解决的问题

在上述的分光测量装置中，存在要求按期望改变光对被测量物的照射角度的分光测量的情况。此外，在近年的分光测量装置中，并不限定于实验室内，还存在搬到场地(例如，在被测量物为植物的情况下，为实际的培育现场)进行分光测量的情况，因此期望简便地进行分光测量。

因此，本发明的一个方式的目的在于提供能够简便地进行以所期望的照射角度将光照射至被测量物的分光测量的分光测量装置和分光测量系统。

解决问题的技术手段

本发明的一个方式的分光测量装置是对被测量物照射光并对与该照射相应地从被测量物输出的测量光进行测量的分光测量装置，其包括：第1框体，其收纳射出上述光的光源，形成有由光源射出的光通过的第1开口；第2框体，其形成有测量光通过的第2开口，收纳接收通过了第2开口的测量光的分光器；和将第1框体与第2框体可相对旋转地连结的臂部件，臂部件的基端侧可旋转地连结于第2框体，在臂部件的前端侧安装有第1框体。

在该分光测量装置中，例如在使第2框体碰到被测量物的状态下，使臂部件以基端侧为中心地以前端侧进行摆动的方式旋转，由此能够使第1框体相对于第2框体的相对角度按期望变化，进而，使光对被测量物的照射角度按期望变化。即，能够简便地进行以所期望的照射角度将光照射至被测量物的分光测量。

在本发明的一个方式的分光测量装置中，臂部件的基端侧也可以经由沿着与从被测量物输出的测量光的光轴相交叉的轴线的旋转轴，可旋转地连结于第2框体。根据该结构，在使臂部件旋转而使光对被测量物的照射角度变化的情况下，能够抑制从光源至被测量物的光的光路(光源与被测量物的距离)变长。

在本发明的一个方式的分光测量装置中，臂部件的基端侧也可以经由沿着与从被测量物输出的测量光的光轴相交叉且与向被测量物照射的光的光轴相交叉的轴线的旋转轴，可旋转地连结于第2框体。根据该结构，在使臂部件旋转而使光对被测量物的照射角度变化的情况下，能够进一步抑制从光源至被测量物的光的光路变长。

在本发明的一个方式的分光测量装置中，第1框体也可以在臂部件的前端侧沿臂部件的延伸方向可滑动地设置。在该结构中，通过使第1框体以沿臂部件的延伸方向接近被测量物的方式滑动，能够使从光源至被测量物的光的光路变短。

在本发明的一个方式的分光测量装置中，第2框体也可以具有限制被测量物的位置的位置限制部。在该结构中，能够利用位置限制部可靠地保持被测量物。