[发明专利]分光测量装置和分光测量系统

说明书

分光测量装置对被测量物照射光并对与该照射相应地从被测量物输出的测量光进行测量，分光测量装置包括：第1框体，其收纳射出光的光源，形成有由光源射出的光通过的第1开口，具有遮光性；第2框体，其形成有测量光通过的第2开口，收纳接收通过了第2开口的测量光的分光器，具有遮光性；和连结部，其可变更第1框体与第2框体的相对位置地连结第1框体与第2框体。

技术领域

本发明的一个方式涉及分光测量装置和分光测量系统。

背景技术

作为现有的分光测量装置，例如已知有专利文献1中记载的装置。在专利文献1中记载的装置中，通过使用光源灯(光源)向载置在试样台的试样(被测量物)照射光，并利用积分球和受光器(分光器)对与该照射相应地从试样输出的光(测量光)进行检测，从而测定试样的光学特性。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利第3446120号公报

发明内容

发明所要解决的问题

但是，在进行透过了被测量物的透过光的测量的情况下和进行由被测量物反射后的反射光的测量的情况下，应该配置光源和分光器的相对位置不同。因此，在上述的分光测量装置中，为了将光源和分光器配置在所期望的相对位置，使得构成向被测量物照射的光的光路的第一旋转部件能够通过电动机旋转移动，并且使得构成从被测量物输出的测量光的光路的第二旋转部件能够通过电动机旋转移动。但是，在这种情况下，结构变得复杂，装置大型化。特别是在要遮挡对被测量物的光学特性的测定产生大的影响的外来光时，例如需要将整个装置配置在遮光性的框体内，因此装置更加大型化。

因此，本发明的一个方式的目的在于提供能够将光源与分光器配置在所期望的相对位置且能够将装置小型化的分光测量装置和具备该分光测量装置的分光测量系统。

解决问题的技术手段

本发明的一个方式的分光测量装置是对被测量物照射光并对与该照射相应地从被测量物输出的测量光进行测量的分光测量装置，其包括：第1框体，其收纳射出光的光源，形成有由光源射出的光通过的第1开口，具有遮光性；第2框体，其形成有测量光通过的第2开口，收纳接收通过了第2开口的测量光的分光器，具有遮光性；和连结部，其可变更第1框体与第2框体的相对位置地连结第1框体与第2框体。

在分光测量装置中，能够通过连结部使第1框体与第2框体处于所期望的位置关系，进而，能够以简洁的结构将收纳在第1框体的光源与收纳在第2框体的分光器配置在所期望的相对位置。而且，因为第1框体和第2框体具有遮光性，因而能够不需要另外的结构地遮挡外来光。因此，能够将光源与分光器配置在所期望的相对位置且能够将装置小型化。

在分光测量装置中，连结部也可以将第1框体与第2框体可相对旋转地连结。在这种情况下，通过利用连结部使收纳有光源的第1框体与收纳有分光器的第2框体相对旋转，能够将光源与分光器配置在所期望的相对角度的位置。

在本发明的一个方式的分光测量装置中，连结部也可以沿第1开口与第2开口相接近或者分开的方向将第1框体和第2框体的任一方相对于另一方可滑动地连结。在这种情况下，能够不依赖于被测量物的厚度地将被测量物以第1开口和第2开口夹着而可靠地保持。

在本发明的一个方式的分光测量装置中，连结部也可以能够向第1开口与第2开口相对的位置变更相对位置。在这种情况下，能够利用分光器将透过了被测量物的透过光作为测量光接收。

在本发明的一个方式的分光测量装置中，连结部也可以能够向照射至被测量物的光的光轴与从被测量物输出的测量光的光轴以规定的角度交叉的位置变更相对位置。在这种情况下，能够利用分光器将被测量物反射后的透过光作为测量光接收。