[发明专利]中子辐射检测系统和方法在审
申请号: | 201780070254.2 | 申请日: | 2017-11-14 |
公开(公告)号: | CN109983364A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | M·埃瓦特塞恩科-博霍;E·莱德;R·皮耶恩;N·特罗斯特;R·布霍尔特 | 申请(专利权)人: | 赛默飞世尔科学测量技术有限公司 |
主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈洁;何焜 |
地址: | 德国埃*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射检测装置 闪烁材料 中子辐射 同位素 辐射 检测器 闪烁检测器 检测系统 中子活化 发射 检测 处理器 监测 暴露 配置 | ||
1.一种γ辐射检测装置,其包括:
a.检测γ辐射的闪烁检测器,所述检测器包括闪烁材料,所述闪烁材料包括元素,所述元素通过所述元素的中子活化产生发射γ辐射的同位素;和
b.处理器,其配置为监测由所述同位素发射的γ辐射,从而检测所述γ辐射检测装置对中子辐射的暴露。
2.根据权利要求1所述的装置,其中所述元素是溴(Br)。
3.根据权利要求2所述的装置,其中所述同位素包括Br-80m。
4.根据权利要求3所述的装置,其中所述同位素还包括Br-80。
5.根据权利要求4所述的装置,其中所述处理器进一步配置为监测由Br-80同位素发射的β辐射。
6.根据权利要求2所述的装置,其中所述同位素包括Br-82m。
7.根据权利要求6所述的装置,其中所述同位素还包括Br-82。
8.根据权利要求7所述的装置,其中所述处理器进一步配置为监测由Br-82同位素发射的β辐射。
9.根据权利要求1所述的装置,其中所述元素是铯(Cs)。
10.根据权利要求9所述的装置,其中所述同位素包括Cs-134m。
11.根据权利要求10所述的装置,其中所述同位素还包括Cs-134。
12.根据权利要求11所述的装置,其中所述处理器进一步配置为监测由Cs-134同位素发射的β辐射。
13.根据权利要求1所述的装置,其中所述处理器进一步配置为监测由所述同位素发射的预定能量γ辐射。
14.根据权利要求13所述的装置,其中所述元素是溴(Br)。
15.根据权利要求14所述的装置,其中所述同位素是Br-82m。
16.根据权利要求15所述的装置,其中由Br-82m同位素发射的γ辐射的能量为48keV。
17.根据权利要求14所述的装置,其中所述同位素是Br-80m。
18.根据权利要求17所述的装置,其中由Br-80m同位素发射的γ辐射的能量为85keV。
19.根据权利要求13所述的装置,其中所述元素是铯(Cs)。
20.根据权利要求19所述的装置,其中所述同位素是Cs-134m。
21.根据权利要求20所述的装置,其中由Cs-134m同位素发射的γ辐射的能量为140keV。
22.根据权利要求1所述的装置,其中所述处理器还被配置为在所述γ辐射检测装置暴露于中子辐射之后监测由所述同位素发射的持续γ辐射。
23.根据权利要求1所述的装置,还包括与γ辐射检测装置直接接触的中子慢化器装置。
24.根据权利要求23所述的装置,其中所述中子慢化器装置包括聚乙烯(PE)、聚氯乙烯(PVC)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)和水中的至少一种。
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