[发明专利]用于光学探测至少一个对象的检测器有效
申请号: | 201780071317.6 | 申请日: | 2017-11-17 |
公开(公告)号: | CN109964144B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | C·席尔德克内希特;C·朗根施密德;I·布鲁德;M·艾伯斯派克;P·费耶斯;R·森德;S·瓦鲁施;T·奥莫尔;W·赫尔梅斯;S·恒恩;C·伦纳茨 | 申请(专利权)人: | 特里纳米克斯股份有限公司 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S7/48;G01S5/16;G01S11/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 牛南辉;杨晓光 |
地址: | 德国莱茵河*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光学 探测 至少 一个 对象 检测器 | ||
1.一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110),所述检测器(110)具有
-至少两个光学传感器(118,120,176),每个光学传感器(118,120,176)具有光敏区域(122,124),其中每个光敏区域(122,124)具有几何中心(182,184),其中所述光学传感器(118,120,176)的所述几何中心(182,184)通过不同的空间偏移与所述检测器(110)的光轴(126)间隔开,其中每个光学传感器(118,120,176)被配置为响应于从所述对象(112)传播到所述检测器(110)的光束(116)对其相应的光敏区域(122,124)的照射而产生传感器信号;以及
-至少一个评估装置(132),被配置用于通过组合至少两个传感器信号来确定所述对象(112)的至少一个纵向坐标z,其中,所述至少两个传感器信号中的每个传感器信号包括所述光束的至少一个光束轮廓的至少一个光束轮廓区域的至少一个信息,
-其中,所述光敏区域被设置成使得第一传感器信号包括所述光束轮廓的第一区域的信息,并且第二传感器信号包括所述光束轮廓的第二区域的信息,
-其中,所述光束轮廓的所述第一区域和所述光束轮廓的所述第二区域是相邻或重叠区域中的一个或两个,
-其中,所述光束轮廓的所述第一区域基本上包括所述光束轮廓的边缘信息,并且所述光束轮廓的所述第二区域基本上包括所述光束轮廓的中心信息,以及
-其中,所述至少一个评估装置(132)被配置为通过下列方式中的一个或多个来导出至少一个商信号Q:除所述传感器信号、除所述传感器信号的倍数、或除所述传感器信号的线性组合,以及其中所述至少一个评估装置(132)还被配置为通过评估所述至少一个商信号Q来确定所述纵向坐标。
2.根据权利要求1所述的检测器(110),其中所述光学传感器(118,120,176)是传感器阵列(174)的一部分,其中所述传感器阵列(174)的几何中心(180)自所述光轴(126)偏移。
3.根据权利要求2所述的检测器(110),其中所述传感器阵列(174)是相对于所述光轴(126)可移动的。
4.根据权利要求3所述的检测器(110),其中,所述评估装置(132)被配置为,首先通过使用所述传感器信号确定由所述光束(116)在所述传感器阵列(174)上产生的光斑(186)的横向位置,以及其次,相对于所述光轴(126)移动所述传感器阵列(174)直到所述光斑(186)偏心。
5.根据权利要求1所述的检测器(110),其中,所述光学传感器(118,120,176)是象限二极管(178)的部分二极管,所述象限二极管(178)的几何中心(180)与所述检测器(110)的所述光轴(126)偏心。
6.根据权利要求1所述的检测器(110),其中,所述评估装置(132)被配置为使用所述至少一个商信号Q和所述纵向坐标之间的至少一个预定关系。
7.根据权利要求1所述的检测器(110),其中,所述检测器(110)包括至少一个照射源(136),其中所述照射源(136)适于用至少一个照射光束照射所述对象(112),其中所述照射源(136)被布置为使得所述照射光束的传播方向基本上平行于所述光轴(126)。
8.根据权利要求7所述的检测器(110),其中,所述检测器(110)包括所述至少一个照射源(136),其中所述照射源(136)和所述光轴(126)通过小基线(202)隔开。
9.一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器系统(134),所述检测器系统(134)包括根据前述权利要求中任一项所述的至少一个检测器(110),所述检测器系统(134)进一步包括至少一个信标装置(114),其适于将至少一个光束(116)引向所述检测器(110),其中所述信标装置(114)属于以下情况中至少一种:可附接到所述对象(112)、可被所述对象(112)保持以及可集成到所述对象(112)中。
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