[发明专利]用于估计聚合物参数的便携式装置和方法

权利要求书

1.一种用于估计聚合物材料的至少一个特征参数的便携式装置(1)，其特征在于，所述装置包括：

至少一个红外源(101)，每个红外源(101)能够向所述聚合物材料发射谱线，其代表最大发射能量，选自波长10μm、9.5μm、7.2μm、6μm、3.5μm、2.7μm之一或选自波数1000cm^-1、1050cm^-1、1350cm^-1、1700cm^-1、2900cm^-1、3700cm^-1之一，每个红外源(101)能够以一个或多个时间脉冲(i，i+1，i+2)的形式向所述聚合物材料(M)发射所述谱线，

至少一个红外检测器(102)，所述至少一个红外检测器(102)能够接收红外辐射(112)，其响应于所述谱线已经由所述至少一个红外源(101)发射而被所述聚合物材料(M)反射，

确定单元(2)，所述确定单元(2)用于根据响应于所述谱线由所述至少一个红外源(101)发射而已被所述聚合物材料(M)反射并且已被所述红外检测器(102)接收的所述谱线中存在的能量，来确定所述聚合物材料(M)的特征参数，

控制设备(21)，所述控制设备(21)用于在脉冲(i)中的至少一个的相应时间宽度(τ_i)中包括的或等于脉冲(i)中的至少一个的相应时间宽度(τ_i)的第一规定时间宽度(γ_i1)期间对所述红外辐射(112)进行多次第一测量(300)，以计算对表示所述第一测量(300)的第一值的估计，所述特征参数至少根据所述第一值来计算，

其中，所述至少一个红外源(101)的谱线的半高宽度小于或等于1μm，

其中，响应于所述谱线由所述至少一个红外源(101)发射而被所述聚合物材料(M)反射并且被所述红外检测器(102)接收的所述谱线的半高宽度小于或等于1μm。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述谱线是窄带发射。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述聚合物材料(M)的特征参数是所述聚合物材料中的至少一种老化示踪剂的存在和/或含量。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述聚合物材料(M)的特征参数是所述聚合物的标识。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述时间脉冲(i，i+1，i+2)是矩形的。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述控制设备用于与所述时间脉冲(i，i+1，i+2)同步地启动所述至少一个红外检测器(102)。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述控制设备(21)用于在两个连续脉冲(i，i+1)之间的相应时间宽度(T_i-τ_i)中包括的或等于两个连续脉冲(i，i+1)之间的相应时间宽度(T_i-τ_i)的第二规定时间宽度(γ_i2)期间对所述红外辐射(112)进行多次第二测量(301)，以计算对表示所述第二测量(301)的第二值的估计，所述特征参数至少根据所述第一值和所述第二值之间的差来计算。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置(1)还包括至少一个手动控制构件(103)，其用于触发由所述至少一个红外源(101)发射所述谱线。

9.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述至少一个红外源(101)是至少一个红外发光二极管或至少一个激光源。

10.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，所述至少一个红外检测器(102)是光电二极管或光电导体类型，并且能够根据其接收到的所述红外辐射(112)来产生电光电流。