[发明专利]用于检测电磁辐射的系统

权利要求书

1.一种电磁辐射检测系统，该电磁辐射检测系统包括：

壳体(20)，该壳体(20)限定部分真空占优势的封闭罩，该壳体包括对所述电磁辐射来说透明的窗口(201)；

冷指(202)，该冷指具有侧壁(204)，该侧壁(204)的一端由与所述窗口(201)对齐的端壁(208)封闭；

传感器(207)，该传感器(207)安装在所述端壁(208)上，具有面向所述窗口(201)布置的平坦顶表面(206)，该平坦顶表面(206)包括对电磁辐射敏感并由所述冷指冷却的检测器，所述传感器限定垂直于所述平坦顶表面(206)并相对于所述平坦顶表面(206)居中的光轴(X)；

围绕所述传感器(207)的冷屏(212)，该冷屏(212)基本上呈圆顶形式，安装在所述冷指(202)上并通过绕所述光轴(X)旋转而产生，所述冷屏(212)包括：顶端(210)，该顶端(210)布置在所述窗口(201)和所述传感器(207)之间，并限定以所述光轴(X)为中心的圆形隔膜(211)；和侧壁(209)，该侧壁(209)将所述冷屏(212)的基部(205)连接至所述顶端(210)，所述侧壁(209)具有内表面，该内表面的凹面朝向所述光轴(X)；

其特征在于，所述系统包括：

具有预定透射系数的至少一个带通电磁辐射过滤器(402)，每个过滤器均能移动并且能够采用第一位置和第二位置，在所述第一位置，所述过滤器面向所述窗口(201)放置在所述壳体(20)的外部，在所述第二位置，所述过滤器放置成不过滤由所述系统接收的任何电磁辐射，在所述第一位置，每个过滤器在包含所述光轴(X)的任何正割平面中具有朝向所述传感器(207)的凹形形状的横截面，该凹形形状具有带圆锥形和/或非球形基部的轮廓，并且所述过滤器反射所述壳体(20)内的焦平面；和

处理装置(213)，该处理装置(213)用于为所述传感器(207)的每个检测器使用每个过滤器处于所述第二位置时由所述检测器提供的第一值和所述至少一个过滤器中的一过滤器处于所述第一位置时由所述检测器提供的至少一个第二值来评估增益和补偿值。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述至少一个过滤器中的至少一个第一过滤器具有表面，该表面的被包含所述光轴(X)的平面截取的所有横截面呈由垂直于所述光轴(X)的平面截断并通过围绕所述光轴(X)旋转而产生的椭圆或圆的形式。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述至少一个过滤器中的至少一个过滤器反射所述冷屏(212)内的所述焦平面。

4.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述第一过滤器的呈截断椭圆形式的所述横截面的椭圆或呈截断圆形式的所述横截面的圆的每个焦点均被置于所述窗口(201)的边缘上。

5.根据权利要求1、2或4所述的系统，其特征在于，所述壳体(20)包括反射所述电磁辐射的内表面，并且所述冷屏(212)包括吸收所述电磁辐射的外表面。

6.根据权利要求2和3所述的系统，其特征在于，所述第一过滤器的呈截断椭圆形式的所述横截面的椭圆或呈截断圆形式的所述横截面的圆的每个焦点均被置于所述隔膜(211)的边缘上。

7.一种用于校准根据权利要求1至6中任一项所述的电磁辐射检测系统使用的传感器的检测器的方法，该检测器对电磁辐射敏感，其特征在于，所述方法包括：

将所述至少一个过滤器中的一过滤器定位(601)在所述第一位置；

触发(602)由所述传感器(207)对值的第一矩阵的获取，所述值的第一矩阵中的每个值从所述IR传感器(207)的检测器发出；

将所述过滤器定位(603)在所述第二位置；

触发(604)由所述传感器(207)对值的第二矩阵的获取；

为所述传感器(207)的每个检测器确定(605)要应用于从所述检测器发出的所述值的增益和补偿值，检测器的增益和补偿值的每次确定使用对应于所述检测器的所述第一矩阵的值和对应于所述检测器的所述第二矩阵的值。