[发明专利]固体摄像装置以及使用该固体摄像装置的摄像装置有效

专利信息
申请号: 201780075076.2 申请日: 2017-11-30
公开(公告)号: CN110036632B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 生熊诚;网川裕之;鬼头崇泰;荻田进一;松尾纯一;远藤康行;德山克巳;阿部哲也 申请(专利权)人: 新唐科技日本株式会社
主分类号: H04N5/378 分类号: H04N5/378
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 齐秀凤
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 固体 摄像 装置 以及 使用
【说明书】:

本公开提供一种固体摄像装置以及使用该固体摄像装置的摄像装置。固体摄像装置(1)具备:像素阵列部(10);列处理部(26);测试信号生成电路(81),生成测试用的第1数字信号;DAC(82),将第1数字信号转换为第1模拟信号,并作为模拟像素信号的代替而供给至像素阵列部(10)或者列处理部(26);以及判定电路(83),测试信号生成电路(81)在摄像动作中的垂直回扫区间所包含的一个水平扫描期间内执行第1数字信号的生成动作,列处理部(26)在摄像动作中的所述垂直回扫区间所包含的所述一个水平扫描期间内执行从第1模拟信号向第2数字信号的转换动作。

技术领域

本公开涉及固体摄像装置以及摄像装置。

背景技术

以往,在固体摄像装置中,为了实现像素部和ADC(Analog Digital Converter:模拟数字转换器)的测试电路,例如,提出了专利文献1所示的方法。

在专利文献1的方法中,在测试模式时,将由测试用像素生成的信号输入全部列的ADC,进行ADC的测试。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:美国专利第8823850号公报

发明内容

发明要解决的课题

然而,根据该专利文献1,分开使用测试模式和通常模式,在测试模式下进行测试,但在通常模式即实际的摄像动作中无法进行测试。

近年来,固体摄像装置的ADC正在推进高比特、高速化。例如,搭载有分辨率为12比特以上、AD转换频率为数百MHz以上的ADC。为了进行这样的ADC的测试,需要输入高速且精度高的模拟数据,并且需要进行从固体摄像装置输出的高速且高比特的数字信号的测试的测试器。

然而,在摄像动作中,与摄像动作同步地进行从外部输入这样的高精度的模拟信号、向外部高速地输出这样的数字信号并进行判定这样的测试是极为困难的。

本公开提供一种在摄像动作中进行测试的固体摄像装置以及摄像装置。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题,本公开中的固体摄像装置具备:像素阵列部,具有以矩阵状配置的多个像素电路;列处理部,为了将模拟像素信号转换为数字像素信号,具有按所述多个像素电路的每列设置的列ADC;测试信号生成电路,生成测试用的第1数字信号;DAC,将所述第1数字信号转换为第1模拟信号,将所述第1模拟信号作为所述模拟像素信号的代替而供给至所述像素阵列部或者所述列处理部;以及判定电路,判定所述第 1数字信号与第2数字信号的差分是否在期待值的范围内,所述第2数字信号是由所述列处理部从所述第1模拟信号转换得到的信号,所述测试信号生成电路在摄像动作中的垂直回扫区间所包含的一个水平扫描期间内执行所述第1数字信号的生成动作,所述列处理部在摄像动作中的所述垂直回扫区间所包含的所述一个水平扫描期间内执行从所述第1模拟信号向第2数字信号的转换动作。

发明效果

根据本公开的固体摄像装置以及摄像装置,能够在摄像动作中进行测试。

附图说明

图1是表示实施方式1中的固体摄像装置的结构例的框图。

图2A是表示实施方式1中的像素电路的电路例的图。

图2B是表示实施方式1中的像素电路的读出动作的时序图。

图3A是表示实施方式1中的像素电路的通常的像素信号的读出动作的时序图。

图3B是表示实施方式1中的像素电路的测试时的像素信号的读出动作的时序图。

图4是表示按每个垂直扫描期间被更新的作为测试信号的第1模拟信号的例子的图。

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1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

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