[发明专利]用于校准半导体装置的可调节阻抗的设备及方法

说明书

本申请案中揭示用于校准半导体装置的可调节阻抗的设备及方法。一种实例设备包含经配置以存储阻抗校准信息的寄存器且进一步包含具有可编程阻抗的可编程终端电阻。所述实例设备进一步包含阻抗校准电路，其经配置以执行校准操作以确定用于设置所述可编程终端电阻的所述可编程阻抗的校准参数。所述阻抗校准电路经进一步配置以将与所述校准操作相关的所述阻抗校准信息编程于所述寄存器中。

相关申请案的交叉参考

本申请案主张2016年12月9日申请的第62/432,494号美国临时申请案的申请权益。本申请案以全文且出于所有目的以引用方式并入本文中。

背景技术

例如微计算机、存储器、门阵列等等的半导体装置包含输入/输出引脚及输出电路，所述输出电路用于经由总线、形成于板上的传输线及其类似物来将数据传输到其它装置。半导体装置内负责传输数据的电路包含(例如)输出缓冲器及驱动器。为达到最佳传输，传输装置的阻抗应与传输网络及接收装置的阻抗匹配。

随着电子装置的操作速度提高，传输信号的摆幅减小。然而，随着传输信号的信号摆幅宽减小，外部噪声增多。如果接口处存在阻抗失配，那么外部噪声会影响输出信号的反射特性。阻抗失配是由外部噪声或电力供应电压、温度及工艺变化等等的噪声引起的。如果出现阻抗失配，那么数据的传输速度降低且来自半导体装置的数据会变得失真。因此，在其中半导体装置接收失真数据的情况中，读取接收数据时的设置/保存失效或错误会引发问题。

为缓解这些不利情况，存储器装置可包含可用于提供可调节裸片上终端及可调节输出驱动器阻抗的可编程终端组件。例如，当将信号(例如命令、数据等等)提供到存储器装置时，可调节裸片上终端以减少阻抗失配。可编程终端组件具有可随操作条件改变而调节的阻抗值。在一些实施方案中，基于对耦合到外部电阻的电路节点所作的电压测量来校准可编程终端组件。

在一些情况中，有限数目个外部连接可用于耦合到外部电阻。出于校准目的，可在使用连接的多个装置之间共享这些外部连接。因此，当两个或两个以上装置试图同时使用外部连接来进行校准操作时，会出现外部连接被争相使用。

可编程终端组件的校准通常响应于存储器命令而发生，例如，在通电、存储器装置复位、改变存储器装置操作的频率设置点或每当期望起始校准过程时，将存储器命令提供到存储器装置。在校准过程起始后的一时间段之后，将另一存储器命令提供到存储器装置以应用校准过程期间所确定的参数以据此设置可编程终端组件。可通过存储器装置的操作说明书来设置时间段。

随着耦合到用于校准的共享外部电阻的存储器装置的数目增多，在时间段结束之前完成所有存储器装置的校准过程会变得更难。在包含多个装置的系统中，所有装置的校准操作必须在指定时间段已逝去之前完成，以在提供后续存储器命令时应用校准参数。当多个装置耦合到共享外部电阻时，每次对一个装置进行校准操作以避免外部电阻被争相使用。然而，对所有多个装置执行校准操作的总时间必须小于时间段。随着系统包含越来越多装置，对所有装置完成校准操作的总时间变得更长。在某些时候，要在指定时间内完成系统的所有装置的校准操作是不切实际的。

发明内容

描述用于校准半导体装置的可调节阻抗的实例设备及方法。

在一个实例中，一种设备包含：寄存器，其经配置以存储阻抗校准信息；及可编程终端电阻，其具有可编程阻抗。所述设备进一步包含：阻抗校准电路，其经配置以执行校准操作以确定用于设置所述可编程终端电阻的所述可编程阻抗的校准参数。所述阻抗校准电路经进一步配置以将与所述校准操作相关的所述阻抗校准信息编程于所述寄存器中。

在另一实例中，一种设备包含：温度传感器，其经配置以提供指示温度的温度信息；可编程终端电阻，其具有可编程阻抗。所述设备进一步包含：阻抗校准电路，其经配置以执行校准操作以基于由所述温度传感器提供的所述温度信息来确定用于设置所述可编程终端电阻的所述可编程阻抗的校准参数。