[发明专利]聚合物、正型抗蚀剂组合物和抗蚀剂图案形成方法有效

专利信息
申请号: 201780075900.4 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN110050005B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 星野学 申请(专利权)人: 日本瑞翁株式会社
主分类号: C08F220/22 分类号: C08F220/22;C08F212/06;G03F7/039;G03F7/20
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 赵曦;刘继富
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 聚合物 正型抗蚀剂 组合 抗蚀剂 图案 形成 方法
【权利要求书】:

1.一种聚合物,具有由下述通式(I)表示的单体单元A,以及由下述通式(II)表示的单体单元B,

式(I)中,R1为氟原子数为5以上且7以下的碳原子数为2以上且10以下的有机基团,

式(II)中,R2为氢原子、氟原子、非取代的碳原子数为1以上且5以下的烷基或氟原子取代的碳原子数为1以上且5以下的烷基,R3为氢原子、非取代的碳原子数为1以上且5以下的烷基或氟原子取代的碳原子数为1以上且5以下的烷基,p和q为0以上且5以下的整数,p+q=5。

2.根据权利要求1所述的聚合物,其中,所述R1为五氟烷基。

3.根据权利要求1或2所述的聚合物,其中,所述R1为2,2,3,3,3-五氟丙基。

4.一种正型抗蚀剂组合物,包含权利要求1~3中任一项所述的聚合物,以及溶剂。

5.一种抗蚀剂图案形成方法,包含:

使用权利要求4所述的正型抗蚀剂组合物形成抗蚀剂膜的工序、

将所述抗蚀剂膜进行曝光的工序、以及

将所述曝光了的抗蚀剂膜进行显影的工序,

所述显影使用表面张力为17mN/m以下的显影液进行。

6.根据权利要求5所述的抗蚀剂图案形成方法,其中,所述显影液包含氟系溶剂。

7.根据权利要求6所述的抗蚀剂图案形成方法,其中,所述显影液为CF3CFHCFHCF2CF3

8.根据权利要求5~7中任一项所述的抗蚀剂图案形成方法,其中,进行所述显影的显影时间为1分钟~3分钟。

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