[发明专利]在衬底上形成结构的方法有效
申请号: | 201780076296.7 | 申请日: | 2017-12-08 |
公开(公告)号: | CN110050329B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | W·卡内鹏;J·W·麦斯;B·琼布罗德;K·K·卡谢尔;D·皮尔勒科斯;D·K·德罗斯特 | 申请(专利权)人: | ASMIP控股有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/033 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 乐洪咏;沙永生 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 衬底 形成 结构 方法 | ||
1.一种在衬底上形成结构的方法,其包括:
向所述衬底提供硬掩模材料;
在所述硬掩模材料上提供图案化层;
在所述硬掩模材料中蚀刻所述图案化层的图案,产生图案化的硬掩模;以及
在反应腔室中,在一个或多个渗透循环期间,用渗透材料渗透所述硬掩模材料,每个渗透循环包括:
a)将第一前驱体提供至在所述反应腔室中的所述衬底上的所述硬掩模材料上,保持第一时间段T1;
b)从所述反应腔室中移除所述第一前驱体的一部分,保持第二时间段T2;以及
c)将第二前驱体提供至在所述衬底上的所述硬掩模材料上,
保持第三时间段T3,使所述第一和第二前驱体彼此反应,在所述硬掩模材料中形成所述渗透材料。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述图案化层通过以下步骤形成:
在所述硬掩模材料上提供光致抗蚀剂层;以及
用光刻设备使所述光致抗蚀剂层图案化。
3.根据权利要求1所述的方法,其中在所述硬掩模材料上提供图案化层包括:
在所述硬掩模材料上提供嵌段共聚物膜;以及
促进所述嵌段共聚物膜的定向自组装以形成所述图案化层。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述一个或多个渗透循环包括:
d)移除所述第二前驱体的一部分,保持第四时间段T4;并且所述一个或多个渗透循环是在1至60个渗透循环之间。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述掩模材料是多孔的。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述硬掩模材料包括旋涂玻璃或旋涂碳层。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述硬掩模材料包括氮化硅层。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述硬掩模材料包括抗反射涂料。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述硬掩模材料包括非晶碳、SiCOH或SiOC材料。
10.根据权利要求1所述的方法,其中移除所述第一和/或第二前驱体包括将所述第一或第二前驱体从所述反应腔室泵出。
11.根据权利要求1所述的方法,其中移除所述第一和/或第二前驱体包括在所述反应腔室中提供吹扫气体以吹扫掉所述第一和/或第二前驱体。
12.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法包括:
提供包括至少两个反应腔室的连续渗透合成设备,每个腔室被构造和布置成用于容纳单一衬底;
将衬底提供至每个反应腔室中;
用共用前驱体输送系统将所述第一和/或第二前驱体提供至所述至少两个反应腔室中。
13.根据权利要求1所述的方法,其中在N次渗透循环期间,用渗透材料渗透所述硬掩模材料之前,在介于20与600℃之间的温度下吹扫所述反应腔室1至3000秒。
14.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法包括将所述反应腔室加热至介于20与450℃之间的温度。
15.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法包括:
将所述反应腔室中的所有表面、排气管线和阀加热至介于20与450℃之间。
16.根据权利要求1所述的方法,其中所述腔室中的压力介于0.001与1000托之间。
17.根据权利要求1所述的方法,其中所述渗透材料包括金属。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造