[发明专利]用于监测场景的表面变形的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201780076433.7 申请日: 2017-12-15
公开(公告)号: CN110691987B 公开(公告)日: 2023-08-11
发明(设计)人: F·科比;A·米彻里尼 申请(专利权)人: 入侵检测雷达公司
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵志刚;赵蓉民
地址: 意大利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 监测 场景 表面 变形 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种用于借助于差分干涉测量法技术监测场景的表面变形的方法,所述方法包括以下步骤:

对雷达传感器(110)进行预布置,所述雷达传感器包括被布置成发射并获取雷达信号的至少一个发射天线(111)和接收天线(112),所述雷达传感器(110)被布置成沿着具有中心O的平坦轨迹γ移动;

限定在所述中心O中具有原点的参考系统S;

借助于沿着所述平坦轨迹γ处置所述雷达传感器(110)来通过SAR技术获取所述场景,所述雷达传感器(110)被配置成使得所述天线(111、112)的辐射方向图相对于所述中心O径向地定向,在布置于所述轨迹γ上的获取点si处发生所述获取,从而获得每个获取点si的多个数据,所述获取至少在第一获取高度ha1处和第二获取高度ha2≠ha1处执行;

限定所述场景的多个目标点ti,借助于参考所述参考系统S的球面坐标(ρi,θi,βi)来限定每个目标点ti的三维位置,所述坐标ρi和θi的值是已知的;

所述方法的特征在于其另外包括借助于以下步骤三维确定所述目标点ti的步骤:

在考虑预定且等于β0的βi的值的情况下,在所述第一获取高度ha1处使每个目标点ti相对于其自身的位置聚焦;

在考虑预定且等于β0的βi的值的情况下,在所述第二获取高度ha2≠ha1处使每个目标点ti相对于其自身的位置聚焦;

借助于干涉测量技术控制所述获取高度ha1和ha2处的所述聚焦,从而获得每个目标点的所述坐标βi的值;

且特征在于此外提供使每个目标点ti相对于其自身的由所述球面坐标(ρi,θi,βi)限定的三维位置进行全局聚焦的步骤,从而获得第一聚焦雷达基准面,通过分析在每个获取点si处获得的数据来针对每个目标点ti获得所述聚焦步骤,其中所述目标点ti是可检测的。

2.根据权利要求1所述的用于借助于差分干涉测量法技术监测场景的表面变形的方法,其中,在所述全局聚焦步骤下游提供以下所述步骤的反复:

借助于SAR技术获取所述场景;

全局聚焦每个目标点ti,从而获得第二聚焦雷达基准面;

且其中接着提供借助于差分干涉测量法技术比较所述第一聚焦雷达基准面与所述第二聚焦雷达基准面的步骤,以便监测所述场景的变化并测量其变形。

3.根据权利要求1所述的用于借助于差分干涉测量法技术监测场景的表面变形的方法,其中在三维确定所述目标点ti的所述步骤下游提供简化所述场景的所述多个目标点ti的步骤,所述简化步骤提供以下步骤:

在所述多个目标点ti中选择具有相同θi值的目标点ti,从而获得所述目标点ti的子组;

将对所述子组中的目标点ti布置成增大ρi的值,从而获得所述子组的目标点ti的有序系列;

根据所述有序系列而将相同βi值归属于所述子组中的借助于保序回归技术选择的目标点ti

4.根据权利要求1所述的用于借助于差分干涉测量法技术监测场景的表面变形的方法,其中通过所述雷达传感器(110)进行三维确定所述目标点ti的所述步骤。

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