[发明专利]光学式分选机的刮拭机构有效

专利信息
申请号: 201780080536.0 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN110099754B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 河村阳一 申请(专利权)人: 株式会社佐竹
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342;G01N21/15;G01N21/85
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金成哲;王莉莉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光学 分选 机构
【说明书】:

本发明提供刮拭器的往复驱动机构不会因粉尘等受到污损并能够清扫光学部的透明板的光学式分选机的刮拭机构。上述光学式分选机的上述光学部的上述刮拭机构具有供被分选物落下的落下空间和用于配设检测上述被分选物的光学检测单元的密闭空间。在上述光学式分选机的光学部的上述两空间的隔壁具有能够使上述光学检测单元进行上述被分选物的检测的透明板。在上述光学部的上述落下空间配设有与上述透明板抵接来清扫该透明板的刮拭器,并在上述密闭空间配设有使上述刮拭器沿上述透明板滑动的往复驱动机构。上述刮拭器与上述往复驱动机构的可动部经由上述两空间的隔壁并通过磁力而能够一体移动地连结。

技术领域

本发明涉及基于色彩等来分选谷物类、树脂颗粒等粒状物或者海苔等片状物的光学式分选机,尤其涉及光学式分选机中的用于清扫光学部的透明板的刮拭机构。

背景技术

现今,公知有以下光学式分选机:基于色彩等将米、麦类、豆类、坚果类等谷物类、颗粒、滚珠等树脂片、医药品、矿石类、白砂等微小的物品、由其它粒状物、片状物等构成的原料分选为合格品和不合格品,或者排除混入原料中的异物等。

上述光学式分选机在光学部中由光学检测装置检测从滑槽的下端等落下的粒状物等,基于该检测信号进行优劣判定,并基于该优劣判定结果从落下轨迹排除并进行分选,从而按照优劣进行排出。

然而,在上述光学式分选机中,在上述光学部设有密闭空间,在上述密闭空间内配设有构成上述光学检测装置的光源、背景以及受光传感器,并且在上述密闭空间的检测上述粒状物等一侧的隔壁装配有玻璃等透明板。

由此,上述光学式分选机能够防止上述光学检测装置因伴随上述粒状物等的落下而飞散的粉尘等受到污损,并且能够由上述光学检测装置进行上述粒状物的检测。

然而,在上述光学式分选机中,由于在上述光学部中在上述透明板的上述粒状物等落下的空间侧的一面附着上述粉尘等,所以有分选精度降低的问题。

因此,提出了一种利用刮拭器清扫上述透明板的上述粒状物等落下的空间侧的一面进行的刮拭机构(参照专利文献1~3。)。

在专利文献1所记载的刮拭机构中,在粒状物等落下的空间配设有螺杆轴,利用上述螺杆轴的动作来往复驱动刮拭器。

并且,在专利文献2所记载的刮拭机构中,在粒状物等落下的空间配设有环状线,利用上述环状线的动作来往复驱动刮拭器。

另外,在专利文献3所记载的刮拭机构中,在粒状物等落下的空间配设有无杆缸筒,利用上述无杆缸筒的动作来往复驱动刮拭器。

根据上述专利文献1~3所记载的刮拭机构,在上述光学部中,能够利用刮拭器清扫上述透明板的上述粒状物等落下的空间侧的一面,因而能够防止光学式分选机的分选精度的降低。

然而,上述专利文献1~3所记载的刮拭机构均在粒状物等落下的空间配设有刮拭器的往复驱动机构,有上述往复驱动机构因上述粉尘等受到污损的问题。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本实愿昭55-33089号(日本实开昭56-137782号)的微胶片

专利文献2:日本特开昭58-17341号公报

专利文献3:日本特开平2-21980号公报

发明内容

发明所要解决的课题

因此,本发明的目的在于提供一种光学式分选机的光学部的刮拭机构,清扫光学部的透明板的刮拭器的往复驱动机构不会因粉尘等受到污损。

用于解决课题的方案

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