[发明专利]用于测定谱的方法在审
申请号: | 201780080590.5 | 申请日: | 2017-10-26 |
公开(公告)号: | CN110100300A | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | G·卡兹曼 | 申请(专利权)人: | 诺韦恩斯有限责任公司 |
主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10;H01J49/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等离子束 发生器 功率产生 电荷 电离 谱仪 优选 等离子点火器 离子迁移谱 第二测量 第一测量 发射光谱 改变信号 高频信号 供给信号 检测 质谱 离子 施加 | ||
本发明涉及一种用于测定试样的谱,尤其是测定质谱、测定离子迁移谱或发射光谱的方法,包括下述步骤:提供用于产生高频信号的、具有用于改变信号的功率和/或频率的调节元件的固态发生器;提供被供给信号的用于产生等离子束的等离子点火器;将等离子束施加至试样;执行第一测量过程,其中以固态发生器的第一功率产生等离子束,并且借助谱仪检测由试样发出的谱、优选地是带电荷的离子和/或谱,其中第一功率导致试样的软电离;并且对同一试样执行第二测量过程,其中以固态发生器的第二功率产生等离子束,并且借助谱仪检测由试样发出的谱、优选地是带电荷的原子和/或谱,其中第二功率导致试样的硬电离。
技术领域
本发明涉及一种用于测定试样的谱,尤其是测定质谱、测定离子迁移谱或发射光谱的方法。此外,本发明还涉及一种谱测定装置。
背景技术
在此处提及的用于测定谱或谱图的方法中将离子束施加至试样。借助相应的谱仪检测并评估在此产生的谱、尤其是由试样发出的离子。EP 306 233 1 A公开了一种已知的方法。借助感应耦合等离子以光学的或质量敏感的探测器、ICP-MS和ICP-OES来探测元素。探测到的元素具有7u至250u的原子质量。借助下述电离方法确认分子、尤其是有机分子,蛋白质和生物聚合物:ESI、APCI、MALDI、DART、DAPCI、DESI、LAESI、LTP和光电离。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于测定谱的方法,其可以以尽量少的花费对十分不同的试样被执行,该试样包括多种分子和多种元素或其混合,并且在此在非常短的用于分析试样的分析时间内实现尽量最好的结果。由此下述情况是可能的,借助仪器确定分子,例如直至5000u的小的有机分子以及PSE的元素,例如碱金属、金属、碱土金属、过渡金属、半金属、非金属、锕系元素、镧系元素。
通过独立权利要求的特征实现该目的。从属权利要求的内容是本发明的优选设计方案。
由此该目的通过用于测定试样的谱,尤其是测定质谱、测定离子迁移谱或发射光谱的方法实现,其包括下述步骤:
-提供用于产生高频的信号的固态发生器、半导体驱动发生器和/或半导体发生器,也被认作或称为微波发生器,具有用于改变信号的功率和/或频率的调节元件。优选地,可以借助相应的调节元件改变频率。
-提供被供给信号的用于产生等离子束的等离子点火器并将等离子束施加至试样。将等离子束施加至试样如有必要可以通过下述方式实现:将试样可替选地或补充地引入等离子束中,或者将试样拾取穿过等离子束或进入等离子束中、尤其是通过套管等离子射流意义上的试样输送部的内导体。
–对试样执行第一测量过程,其中以固态发生器的第一功率产生等离子束,由试样发射的谱借助谱仪被检测,并且在固态发生器上的第一功率调节成,以等离子束对试样的施加使得试样中存在的分子解吸附并电离以形成分子离子、准分子离子、分子加合物和/或片段。
–对同一试样执行可替选的或额外的第二测量过程,其中以固态发生器的第二功率产生等离子束,并且该第二功率高于第一功率,尤其是在直至400W的范围内,由试样发出的谱借助谱仪被检测,并且在固态发生器上的第二功率调节成,以等离子束对试样的施加使得试样中存在的元素周期表的元素解吸附、原子化和电离。
由试样发出的谱特别地是通过由试样产生的材料成分和/或通过发出的光谱形成或来形成的,该材料成分例如是为带单电荷或多电荷的原子形式的离子和/或处于气相的分子。
相应的谱仪根据本发明是光谱仪、质谱仪、离子迁移谱仪和/或组合谱仪,其涵盖这些或其它基础的谱测量方法和/或确认方法。
本发明的意义中,固态发生器可以可替选地或额外地也被称为基于半导体的微波发生器。在该意义下,固态发生器和基于半导体的微波发生器的概念在上下文同义地使用。
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