[发明专利]用于光纤的测量设备和方法有效
| 申请号： | 201780081138.0 | 申请日： | 2017-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN110140037B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | F·比西埃;B·桑吉内蒂 | 申请（专利权）人： | 艾迪量子股份公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01D5/353 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 周家新 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 光纤 测量 设备 方法 | ||
1.一种用于测量光纤(1400)中的反射的测量设备(3000、5000、6000)，所述测量设备包括：
发射装置(3100)，其连接至光纤(1400)并被配置成用于将光发射到光纤(1400)中，
测量装置(3300、5300、6300)，其连接至光纤(1400)并被配置成用于接收来自光纤(1400)的反射光，
其特征在于，
测量装置包括第一光子探测器(3310)和第二光子探测器(3311)，
其中，基于第一光子探测器(3310)的输出控制第二光子探测器(3311)的操作、或控制到达第二光子探测器(3311)的反射光、或控制第二光子探测器(3311)的操作和到达第二光子探测器(3311)的反射光，
其中，所述测量设备还包括连接在光纤(1400)与第二光子探测器(3311)之间的光学延迟元件(3370)，
其中，光学延迟元件(3370)向来自光纤(1400)的反射光引入一延迟ΔT2。
2.根据权利要求1所述的测量设备(5000、6000)，其特征在于，所述测量装置还包括连接在光纤(1400)与第二光子探测器(3311)之间的强度调制器(5360)，并且
其中，基于第一光子探测器(3310)的输出驱动强度调制器(5360)，以便控制到达第二光子探测器(3311)的反射光。
3.根据权利要求1所述的测量设备(3000、5000、6000)，其特征在于，
所述延迟ΔT2等于或长于第一光子探测器(3310)检测反射光所需的时间。
4.根据权利要求2或3所述的测量设备(3000、5000、6000)，其特征在于，
发射装置(3100)被配置成用于发射具有预定脉冲持续时间的光脉冲，
强度调制器(5360)被配置为能够以等于或优选地大于脉冲持续时间的切换时间ΔT3切换。
5.根据权利要求4所述的测量设备(3000、5000、6000)，其特征在于，
切换时间ΔT3是脉冲持续时间的至少1.5倍。
6.根据权利要求4所述的测量设备(3000、5000、6000)，其特征在于，
切换时间ΔT3是脉冲持续时间的至少3倍。
7.根据权利要求4所述的测量设备(3000、5000、6000)，其特征在于，
切换时间ΔT3是脉冲持续时间的至少5倍。
8.根据权利要求1-3中任一项所述的测量设备(6000)，其特征在于，所述测量设备还包括连接在光纤(1400)与第二光子探测器(3311)之间的光学衰减器(6380)。
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