[发明专利]能识别和管理电荷共享的X射线检测器在审

专利信息
申请号: 201780083660.2 申请日: 2017-01-23
公开(公告)号: CN110192123A 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: 曹培炎;刘雨润 申请(专利权)人: 深圳帧观德芯科技有限公司
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;G01N23/083
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518054 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 像素 载流子 控制器 检测X射线 电荷共享 复位 关联 配置 管理
【权利要求书】:

1.一种用于X射线检测的仪器,包括:

X射线吸收层,该X射线吸收层包括第一像素和第二像素;以及

控制器,该控制器被配置成用以:

确定由第一X射线光子产生的载流子被所述第一像素和所述第二像素收集,并且

复位与由所述第一像素和所述第二像素收集的载流子相关联的信号。

2.根据权利要求1所述的仪器,其中,复位所述信号包括将所述信号的每一个值复位归零,或者删除所述信号。

3.根据权利要求1所述的仪器,其中,与所述第一像素和所述第二像素收集的载流子相关联的所述信号包括:由所述第一像素收集的第一载流子产生的第一电压,以及由所述第二像素收集的第二载流子产生的第二电压。

4.根据权利要求3所述的仪器,其中,所述第一像素与具有所述第一电压的第一电容器相关联,并且所述第二像素与具有所述第二电压的第二电容器相关联。

5.根据权利要求3所述的仪器,其中,确定由所述第一X射线光子产生的载流子被所述第一像素和所述第二像素收集包括:确定与所述第一电压和所述第二电压相关联的特征,并且其中,所述特征是在所述阈值内或大于所述阈值。

6.根据权利要求5所述的仪器,其中,所述特征是:所述第一电压的上升沿或下降沿与所述第二电压的上升沿或下降沿之间的时间差,或其函数。

7.根据权利要求1所述的仪器,其中,所述控制器还被配置为:

确定由所述第二X射线光子产生的所有载流子均由所述第一像素或者所述第二像素收集,并且

基于由所述第二X射线光子产生的所有载流子确定所述第二X射线光子能量。

8.根据权利要求7所述的仪器,其中,还包括被配置成用以记录所述X射线吸收层吸收的X射线光子数的计数器,其中,所述控制器被配置成:如果所述第二X射线光子能量等于或超过预定能量阈值,使所述计数器记录的数字增加1。

9.根据权利要求7所述的仪器,其中,基于由所述第二X射线光子产生的所有载流子产生的电压来确定所述第二X射线光子的能量。

10.根据权利要求1所述的仪器,其中,所述仪器包括像素阵列。

11.根据权利要求1所述的仪器,其中,所述控制器包括第一D型触发器(DFF)以及第二D型触发器,其中,与所述第一像素相关联的第一电压波形被输入到所述第一D型触发器,并且与所述第二像素相关联的第二电压波形被输入到所述第二D型触发器。

12.根据权利要求11所述的仪器,其中,所述控制器还被配置成用以产生基于来自第一D型触发器的输出信号的第一信号以及来自所述第二D型触发器的第二输出信号,并且其中,所述第一信号表示所述第一波形的上升沿或下降沿与所述第二波形的上升沿或下降沿的时间差。

13.根据权利要求12所述的仪器,其中,基于所述第一输出信号和所述第二输出信号生成的信号被回馈为第一D型触发器和第二D型触发器的输入。

14.根据权利要求12所述的仪器,其中,所述控制器还包括N沟道场效应晶体管(N-FET)、P沟道场效应晶体管(P-FET)和电容器。

15.根据权利要求14所述的仪器,其中,所述控制器还被配置成基于所述第一信号生成第二信号,其中所述第二信号的峰值与所述第一波形的上升沿或下降沿与所述第二波形的上升沿或下降沿的时间差成比例。

16.一种包括根据权利要求1所述的仪器和X射线源的系统,其中所述系统被配置成对人体胸部或腹部进行X射线照相。

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