[发明专利]氧化铈的悬浮液在审

专利信息
申请号: 201780084359.3 申请日: 2017-12-01
公开(公告)号: CN110214126A 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: A.德科国莫;D.J.威尔逊 申请(专利权)人: 罗地亚经营管理公司
主分类号: C01G99/00 分类号: C01G99/00;C01F17/00;C01G1/02;C09K3/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐晶;黄念
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 悬浮液 氧化铈颗粒 极性溶剂 混合物 聚合物 氧化铈 制备
【权利要求书】:

1.一种氧化铈、铈的水合氧化物或铈和至少一种选自La、Pr、Nd、Sr、Y、Al、Ti或Zr的其他元素E的混合氧化物的颗粒在DMSO和至少一种具有式(I)的化合物S1的混合物中的悬浮液:

R1OOC-A-CONR2R3 (I)

其中:

■A代表(C2-C5)-亚烷基基团;

■R1是(C1-C4)-烷基基团;

■R2和R3是两个(C1-C4)-烷基基团,这些基团可以是相同的或不同的。

2.如权利要求1所述的悬浮液,其中,这些颗粒是氧化铈颗粒。

3.如权利要求1所述的悬浮液,其中,这些颗粒是铈和至少一种选自La、Pr、Nd、Sr、Y、Al、Ti或Zr的其他元素E的混合氧化物的颗粒。

4.如权利要求1至3所述的悬浮液,其中,这些颗粒具有小于200nm的平均大小。

5.如前述权利要求之一所述的悬浮液,其中,这些颗粒具有以下特征中的至少一种:

■小于或等于100nm的平均大小dXRD,通过X射线衍射技术确定;

■小于或等于200nm的平均大小dTEM,通过透射电子显微镜法(TEM)确定;

■小于或等于100nm的平均大小dBET,通过测量BET比表面积确定;

■小于或等于200nm的平均大小d50,由通过动态光散射技术获得的这些颗粒的直径的体积分布确定。

6.如前述权利要求之一所述的悬浮液,其特征在于,它包含至少一种阴离子表面活性剂,该至少一种阴离子表面活性剂包含至少一个具有式-COOM、-SO3M或-P(=O)2(OM)、-P(=O)(OM2)的阴离子基团Z,其中M代表抗衡阳离子,更具体地衍生自碱金属。

7.如前述权利要求之一所述的悬浮液,其中,这些颗粒的特征在于在800nm与100nm之间;或在45nm与65nm之间;或在25nm与45nm之间;或在15nm与30nm之间;或在6nm与15nm之间;或在2nm与4nm之间的dXRD

8.如前述权利要求之一所述的悬浮液,其中,这些颗粒的特征在于在150nm与200nm之间;或在70nm与110nm之间;或在35nm与70nm之间;或在15nm与35nm之间;或在6nm与15nm之间;或在2nm与5nm之间的dTEM

9.如前述权利要求之一所述的悬浮液,其中,这些颗粒的特征在于:

在150nm与200nm之间的dTEM以及在80nm与100nm之间的dXRD

在70nm与110nm之间的dTEM以及在45nm与65nm之间的dXRD

在35nm与70nm之间的dTEM以及在25nm与45nm之间的dXRD

在15nm与35nm之间的dTEM以及在15nm与30nm之间的dXRD

在6nm与15nm之间的dTEM以及在6nm与15nm之间的dXRD

在2nm与5nm之间的dTEM以及在2nm与4nm之间的dXRD

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗地亚经营管理公司,未经罗地亚经营管理公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780084359.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top