[发明专利]电磁波检测器、电磁波检测器阵列以及电磁波检测方法有效
申请号: | 201780085842.3 | 申请日: | 2017-10-19 |
公开(公告)号: | CN110392933B | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 岛谷政彰;小川新平;藤泽大介;奥田聪志 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/02 | 分类号: | H01L31/02;H01L31/08 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 许海兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电磁波 检测器 阵列 以及 检测 方法 | ||
电磁波检测器包括并排设置于绝缘层之上的p型以及n型的石墨烯、隔着石墨烯而对置配置的第一电极和第二电极、向p型以及n型的石墨烯施加动作电压的栅极电极以及连接于2个第二电极之间的平衡电路和检测电路,p型的石墨烯具有比动作电压高的狄拉克点电压,n型的石墨烯具有比动作电压低的狄拉克点电压,在电磁波未入射于石墨烯的状态下,平衡电路使第一电极和第二电极具有相同电位,在电磁波入射于p型以及n型的石墨烯的状态下,检测电路检测第二电极间的电信号,输出电磁波入射后的状态的电信号。
技术领域
本发明涉及电磁波检测器、电磁波检测器阵列以及电磁波检测方法,尤其涉及使用了石墨烯作为检测层的电磁波检测器、电磁波检测器阵列以及电磁波检测方法。
背景技术
在以往的电磁波检测器中,通常使用半导体材料作为电磁波检测层,但是由于半导体材料具有预定的带隙,因此仅能够检测具有比带隙更大的能量的电磁波。对此,作为下一代的电磁波检测器的电磁波检测层的材料,带隙为零或者极小的石墨烯受到关注,例如提出了在基板上设置栅极氧化膜,在其之上堆积石墨烯的沟道层,在沟道层的两端形成有源极以及漏极的电磁波检测器(例如参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特表2013-502735号公报
发明内容
发明所要解决的问题
然而,在由石墨烯单体形成电磁波检测层的情况下,存在着电磁波的吸收率非常低,低至约几%,尽管能够检测的波段宽,但是检测灵敏度低下的问题。另外,由于石墨烯具有双极特性,因此与通常的半导体材料不同,OFF动作困难,在作为电磁波检测器使用时,也存在着无法使暗电流为零的问题。
于是,本发明的目的在于提供一种能够检测的电磁波的波段宽、检测灵敏度高并且能够执行OFF动作的、使用了石墨烯作为电磁波检测层的材料的电磁波检测器、电磁波检测器阵列以及电磁波检测方法。
用于解决问题的方案
本发明的第一方式为一种电磁波检测器,将电磁波变换为电信号而检测,该电磁波检测器的特征在于,
包括:
基板;
绝缘层,设置于基板之上;
p型以及n型的石墨烯,并排设置于绝缘层之上;
第一电极以及第二电极,隔着p型以及n型的石墨烯而对置配置,其中,
第一电极为在p型以及n型的石墨烯的一端与两者电连接的1个电极,
第二电极为与p型以及n型的石墨烯的另一端分别电连接的2个电极;
栅极电极,向p型以及n型的石墨烯施加动作电压;
平衡电路,连接于2个第二电极之间;以及
检测电路,检测2个第二电极之间的电信号,
其中,
p型的石墨烯具有比动作电压高的狄拉克点(dirac point)电压,n型的石墨烯具有比动作电压低的狄拉克点电压,
在电磁波未入射于p型以及n型的石墨烯的状态下,平衡电路使第一电极和第二电极具有相同电位,
在电磁波入射于p型以及n型的石墨烯的状态下,检测电路检测第二电极之间的电信号,
输出电磁波入射后的状态的电信号。
另外,本发明的第二方式为一种电磁波检测器,将电磁波变换为电信号并检测,该电磁波检测器的特征在于,
包括:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的