[发明专利]具有阱搁板的测试卡

权利要求书

1.一种测试卡，包括：

主体，其包括第一表面和与所述第一表面相对的第二表面，所述主体限定至少一个液体供应导管；

至少一个阱，其限定从所述第一表面延伸到所述第二表面并配置成在其中接收样品的开口；其中，所述至少一个阱包括：

壁，所述壁界定开口并且在所述测试卡的第一表面和第二表面之间延伸；

搁板，其延伸到所述开口中，使得所述开口在所述搁板和所述第二表面之间比在所述搁板和所述第一表面之间更窄；以及

供应导管开口，其限定在壁中位于至少一部分搁板上方的位置，使得所述供应导管开口和所述至少一部分搁板相对于至少一个阱周向对齐，所述供应导管开口将至少一个液体供应导管与至少一个阱连接。

2.如权利要求1所述的测试卡，其中，所述搁板和所述第一表面之间的第一距离大于所述搁板和所述第二表面之间的距离。

3.如权利要求1所述的测试卡，其中，所述搁板以0.035mm至0.05mm延伸进入所述开口。

4.如权利要求1所述的测试卡，其中，所述壁的第一部分从所述搁板延伸到所述第一表面，并且所述壁的第二部分从所述搁板延伸到所述第二表面，并且其中，所述搁板在所述第一部分和第二部分的接合处从所述壁突出。

5.如权利要求4所述的测试卡，其中，所述搁板限定了基本平行于所述第一表面或第二表面的搁板表面，并且其中，所述搁板表面设置在所述壁的第一部分与所述壁的第二部分的接合处。

6.如权利要求5所述的测试卡，其中，所述搁板表面相对于所述至少一个阱的纵轴限定0.035mm至0.05mm的径向宽度。

7.如权利要求1所述的测试卡，其中，所述开口在平行于所述第一表面或第二表面的平面内的横截面积在所述搁板和第一表面之间比在所述搁板和第二表面之间更大。

8.如权利要求7所述的测试卡，其中，在所有轴向位置处，所述开口在平行于所述第一表面或第二表面的平面内的横截面积在所述搁板和第一表面之间比在所述搁板和第二表面之间更大。

9.如权利要求1所述的测试卡，其中，所述搁板围绕所述至少一个阱内的开口周向延伸。

10.如权利要求1所述的测试卡，其中，所述至少一个阱包括多个阱。

11.如权利要求10所述的测试卡，其中，所述至少一个阱包括104个阱。

12.一种制造测试卡的方法，所述测试卡包括主体和至少一个阱，所述主体包括第一表面和与所述第一表面相对的第二表面，所述主体限定至少一个液体供应导管，所述至少一个阱限定从所述第一表面延伸到所述第二表面并配置成在其中接收样品的开口；其中，所述至少一个阱包括：壁，所述壁界定开口并且在所述测试卡的第一表面和第二表面之间延伸；搁板，所述搁板延伸到所述开口中，使得所述开口在所述搁板和所述第二表面之间比在所述搁板和所述第一表面之间更窄；和供应导管开口，其限定在壁中位于至少一部分搁板上方的位置，使得所述供应导管开口和所述至少一部分搁板相对于至少一个阱周向对齐，所述供应导管开口将至少一个液体供应导管与至少一个阱连接；所述方法包括：

使第一模板与第二模板对齐，其中，所述第一模板包括具有第一形状的第一销，所述第一形状对应于所述至少一个阱的从所述搁板延伸到所述第一表面的部分，其中，所述第二模板包括具有第二形状的第二销，所述第二形状对应于所述至少一个阱的从所述搁板延伸到所述第二表面的部分，其中，所述第二销比所述第一销窄；并且

在所述第一模板和第二模板之间模制测试板。

13.如权利要求12所述的方法，其中，在所述第一模板和第二模板的交叉处形成所述搁板。