[发明专利]用于监测空气颗粒物的系统和方法在审
申请号: | 201780086791.6 | 申请日: | 2017-12-19 |
公开(公告)号: | CN110325844A | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | R·N·卡尔尼克;A·张 | 申请(专利权)人: | 麻省理工学院 |
主分类号: | G01N21/94 | 分类号: | G01N21/94;G01N1/22 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基板 捕获 偏转 空气颗粒物 机械手段 静电 传感器 读取 刷子 过滤器 带电载流子 成像特性 带电基板 基板补充 监测检测 静电技术 污染分析 光散射 静电力 可检测 照明源 监测 导出 可用 条带 照相机 成像 沉淀 过滤 纤维 清洁 补充 分析 | ||
1.一种用于监测颗粒物的方法,包括:
在一个或多个基板上从流动的空气捕获颗粒,所述捕获使用静电和机械捕获器中的一个或多个来执行;
在所捕获的颗粒上执行一个或多个感测操作;以及
基于所述一个或多个感测操作的结果来分析所捕获的颗粒,
其中当在所述基板上捕获所述颗粒时,所述颗粒在相对于所述基板的受控位置上,所述受控位置能够在足够长的一段时间内被维持以在其上执行所述一个或多个感测操作。
2.如权利要求1所述的方法,
其中所述一个或多个基板是导电的,
其中为了在所述一个或多个基板上捕获所述颗粒,所述方法还包括:
用第一电荷给所述一个或多个基板中的至少一个充电;以及
用第二电荷给所述颗粒充电,所述第二电荷与所述第一电荷相反,以及
其中用所述第二电荷给所述颗粒充电使所述颗粒朝着所述一个或多个基板偏转并到所述一个或多个基板上。
3.如权利要求1所述的方法,
其中所述一个或多个基板包括过滤器;以及
其中为了在所述一个或多个基板上捕获所述颗粒,所述方法还包括:
使空气能够穿过所述一个或多个基板的所述过滤器或在所述过滤器之上流动,从而使所述空气中的所述颗粒由所述过滤器中的一个或多个捕获。
4.如权利要求1、2或3所述的方法,其中所述一个或多个基板由可移动条带的一个或多个部分形成,所述可移动条带包括其它部分,与所述颗粒在所述一个或多个基板上的捕获同时,在所述其它部分上颗粒不被捕获。
5.如权利要求2或3所述的方法,其中为了在所述一个或多个基板上捕获所述颗粒,所述方法还包括使用气泵来便于空气朝着所述一个或多个基板的流动。
6.如权利要求2或3所述的方法,
其中所述一个或多个基板包括背离所述基板的主体的已修改表面,以及
其中所述颗粒通过粘附到所述一个或多个基板的所述已修改表面来被捕获在所述一个或多个基板上。
7.如权利要求4所述的方法,还包括:
通过使所述可移动条带前进来补充所述颗粒被捕获于的所述一个或多个基板的至少一部分,使得颗粒的所述捕获在所述可移动条带的不同部分上被执行。
8.如权利要求2、3或7所述的方法,还包括:
清洁所述颗粒被捕获于的所述一个或多个基板的至少一个表面。
9.如权利要求8所述的方法,其中使用机械手段和静电手段中的一个或多个来执行所述至少一个表面的清洁。
10.如权利要求9所述的方法,其中为了使用静电手段来清洁所述至少一个表面,所述方法还可操作来:
用等于所述第一电荷的第三电荷给所捕获的颗粒充电,
其中用所述第三电荷给所捕获的颗粒充电使所述颗粒远离所述一个或多个基板分离。
11.如权利要求1所述的方法,其中所述一个或多个感测操作由一个或多个传感器执行,所述一个或多个传感器被配置成执行光学感测、声感测、电磁感测和介电感测中的一个或多个。
12.如权利要求11所述的方法,
其中所述一个或多个传感器被配置成执行最佳感测,以及
其中所述一个或多个传感器包括照相机。
13.如权利要求12所述的方法,
其中所述一个或多个感测操作包括光学感测,以及
其中为了执行所述一个或多个感测操作的光学感测,所述方法还包括:
照射所述一个或多个基板;
检测由在所述一个或多个基板上捕获的所述颗粒散射的散射光。
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