[发明专利]用于内建自测试的方法和设备

权利要求书

1.一种用于内建自测试的设备，其特征在于，包括：

基板上的一个或多个非时钟和数据恢复（CDR）部件；

所述基板上的信号发生器，所述信号发生器耦接到所述一个或多个非CDR部件中的至少一个；以及

所述基板上的CDR部件，所述CDR部件耦接到所述一个或多个非CDR部件，其中所述CDR部件：

被配置为通过所述CDR部件从接收到的信号恢复时钟数据，并且被配置为基于所述接收到的信号和所述时钟数据来确定信号；

所述一个或多个非CDR部件包括一个或多个放大器。

2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述一个或多个放大器包括跨阻放大器或限幅放大器。

3.如权利要求1所述的设备，其特征在于，所述信号发生器被配置为提供测试信号，用于对选自所述一个或多个非CDR部件和所述CDR部件中的一个或多个部件进行自测试。

4.如权利要求3所述的设备，其特征在于，还包括所述基板上的耦接到所述CDR部件或者所述一个或多个非CDR部件中的至少一个部件的信号检查器，其中所述信号检查器被配置为在所述测试信号经过选自所述一个或多个非CDR部件和所述CDR部件中的所述一个或多个部件之后，基于接收到所述测试信号确定测量值。

5.如权利要求4所述的设备，其特征在于，所述信号发生器或所述信号检查器被配置为与外部装置耦接，所述外部装置被配置为监测所述信号发生器或所述信号检查器。

6.如权利要求4所述的设备，其特征在于，所述信号发生器是伪随机比特序列（PRBS）发生器。

7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述测量值由所述信号检查器接收的错误比特的数目表征。

8.如权利要求3所述的设备，其特征在于，还包括所述基板上的耦接到所述信号发生器的信号调节器，其中所述信号调节器被配置为调节所述测试信号的一个或多个参数。

9.如权利要求8所述的设备，其特征在于，所述测试信号的所述一个或多个参数选自振幅、带宽、抖动和噪声电平。

10.如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述信号调节器包括耦接到可调谐电流源的放大器，并且其中所述放大器和所述可调谐电流源被共同配置为调节所述测试信号的振幅，所述放大器的增益可通过对所述可调谐电流源进行调谐来调节。

11.如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述信号调节器包括可调谐电阻器或可调谐电容器，并且其中所述可调谐电阻器或所述可调谐电容器被配置为调节所述测试信号的所述带宽。

12.如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述信号调节器包括耦接到可调谐射频（RF）源的延迟线，并且其中所述延迟线和所述可调谐射频源被共同配置为调节所述测试信号的所述抖动。

13.如权利要求12所述的设备，其特征在于，所述可调谐射频源被配置为提供具有可调谐频率或可调谐功率的正弦射频信号。

14.如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述信号调节器包括可调谐噪声源，所述可调谐噪声源被配置为调节施加到所述测试信号的噪声电平。

15.如权利要求8所述的设备，其特征在于，还包括可编程开关，所述可编程开关耦接到所述信号调节器以及选自所述CDR部件和所述一个或多个非CDR部件的至少两个部件。

16.如权利要求15所述的设备，其特征在于，所述可编程开关被配置为选择性地将所述测试信号引导到选自所述一个或多个非CDR部件和所述CDR部件的部件。