[发明专利]分光检测器

说明书

一种分光检测器，具备:光源；试样池，供试样在内部流通；光传感器；光学系统，将来自所述光源的光引导至所述试样池且将来自所述试样池的光引导至所述光传感器，该光学系统具有分光器，在所述光源与所述试样池之间或者在所述试样池与所述光传感器之间对光进行分光；壳体，一体地具有用于对所述光源进行收容的灯房部与用于至少对所述试样池以及所述光学系统进行收容的光学系统收容部。灯房部与光学系统收容部成为一体而构成壳体，使得热变得更容易从灯房部向光学系统收容部传递，检测器整体达到热平衡为止的时间得以缩短。

技术领域

本发明涉及例如分光光度计或示差折射率检测器等在光学系统中含有分光器的检测器(以下将这样的检测器称为“分光检测器”)，该光学系统将来自光源的光引导至试样池，并且将来自试样池的光引导至光传感器。

背景技术

紫外可视分光光度计或分光荧光光度计、示差折射率检测器等分光检测器利用氘灯或卤素灯等伴随发热进行发光的灯作为光源。在分光检测器，光源储存在被称为灯房的光源储存部件，但是将光向试样池或光传感器引导的含有分光器的光学系统收容在和灯房不同的储存部件(以下称为光学系统收容部)内(参照专利文献1)。

从光源发出的光被导入至光学系统收容部内，由分光器分光并通过光传感器进行检测。在导入至光学系统收容部内的光的光路上配置试样池，通过光传感器对透过在试样池内流动的试样成分的光或从试样成分发出的荧光进行检测，从而对试样成分的吸光度或荧光强度进行测量，由此进行试样成分的鉴定或定量。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2014-048176号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

已知分光检测器的光源的发光强度或构成光学系统的分光器等的各个光学部件的光学特性有温度依存性。因此，从检测器启动到检测器信号稳定为止，需要一定程度的时间。特别是，如果像衍射光栅那样的分光器的温度变动，则搭载在分光器的光学元件的相对位置关系发生变化，由此波长分散角变动，分光性能发生变化。

如上所述，在以往，对光学系统收容部与灯房进行热分离，从而使特别是分光器等光学系统不受来自光源的热的影响。但是，由于在检测器的构成上使光学系统收容部与灯房相邻配置，所以受到来自光源的辐射热的影响等使光学系统收容部与灯房无法完全热分离。因此，灯房的热缓慢地向光学系统收容部一侧传递，灯房与光学系统收容部的整体达到热平衡为止需要很长时间，由此成为检测器信号到稳定为止的时间变长的原因。

本发明目的在于，缩短检测器信号到稳定为止的时间。

用于解决上述技术问题的方案

在以往的分光检测器中，从对来自光源的热对于光学系统的影响进行抑制这一观点出发，在光源与光学系统之间进行热分离已成为技术常识。对此，本发明是基于如下设想完成的：即，有意地使热更容易从光源向光学系统传递，从而使得检测器整体达到热平衡为止的时间缩短。

即，本发明的分光检测器具备:光源；试样池，供试样在内部流通；光传感器；光学系统，将来自所述光源的光引导至所述试样池，并且将来自所述试样池的光引导至所述光传感器，该光学系统具有分光器，该分光器在所述光源与所述试样池之间或者在所述试样池与所述光传感器之间对光进行分光；壳体，所述壳体一体地具有灯房部和光学系统收容部，所述灯房部用于收容所述光源，所述光学系统收容部用于至少收容所述试样池以及所述光学系统。灯房部与光学系统收容部成为一体来构成壳体，从而使热变得更容易从灯房部向光学系统收容部传递，检测器整体达到热平衡为止的时间得以缩短。

优选地，壳体由热传导性材料制成。这样一来，由光源产生的热高效率地向壳体整体传递，检测器整体达到热平衡为止的时间变短。