[发明专利]测量装置及测量探针

说明书

本发明的测量装置(1)包括：至少包含会因放射线作用而停止发出荧光的荧光物质的感应部(3)；以及测量部(5)，该测量部(5)基于由包含在感应部3中的荧光物质发出的荧光强度由于放射线作用于荧光物质的至少一部分而衰减时的衰减量，对照射到感应部(3)的放射线的放射剂量进行测量。荧光物质包括锂、硼、钆中的至少某一个。测量部(5)基于从放射线照射到感应部(3)之前的荧光强度减去放射线照射到感应部(3)之后的荧光强度而得到的值来对放射线剂量进行测量。

技术领域

本发明涉及测量放射剂量用的测量装置、以及测量探针。

背景技术

作为能够测量放射剂量的装置已知有使用闪烁体的测量装置。专利文献1公开光纤型放射线检测器。光纤型放射线检测器具有在光透射性较高的丙烯酸树脂构件的中心部分插入荧光性光纤的结构。在丙烯酸树脂部分的外周面形成有包含闪烁体的放射线感应层。当放射线入射到放射线感应层时，通过使闪烁体吸收放射线而发出荧光(称为“第1荧光”)。第1荧光通过丙烯酸树脂构件被荧光性光纤所吸收。此时，荧光性光纤发出与第1荧光不同频率的荧光(称为“第2荧光”)。第2荧光在荧光性光纤的芯体中前进，并且通过光电转换器被转换成电信号，进行测量。由此，确定放射剂量。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开11－118933号公报

发明内容

上述检测器中，通过测量由于放射线入射到闪烁体而发出的荧光，从而对放射剂量进行测量。然而，由于闪烁体的发光量较微弱，因此需要在测量中使用光学倍增管、或配备非常高灵敏度的测量设备。因此，存在装置变得复杂且昂贵的问题。

本发明的目的在于提供能够以高灵敏度对放射剂量进行测量的测量装置、以及测量探针。

本发明的第1方式所涉及的测量装置的特征在于，包括：感应部，该感应部至少包含会因放射线作用而停止发出荧光的荧光物质；以及测量部，该测量部基于激励源照射到包含在所述感应部中的所述荧光物质而发出的荧光的强度由于放射线作用于所述荧光物质的至少一部分而衰减时的衰减量，对照射到所述感应部的放射线的放射剂量进行测量。

测量装置具有感应部以及测量部。感应部至少包含会因放射线作用而停止发出荧光的荧光物质。在放射线照射到感应部的情况下，放射线作用于荧光物质的至少一部分。放射线作用的荧光物质的至少一部分的荧光被停止。在该情况下，从荧光物质整体发出的荧光的强度衰减。另外，荧光的强度的衰减量根据照射到感应部的放射线的放射剂量而变化。因此，测量部能够基于荧光的强度的衰减量，对照射到感应部的放射线的放射剂量进行测量。另外，在上述中，测量装置能够抑制感应部中含有除放射剂量的测量所需的荧光物质以外的多余的物质。因此，测量装置由于能够维持感应部的透明性，因此能够以较高灵敏度对放射剂量进行测量。

在第1方式中，也可为，所述放射线是中子射线，所述荧光物质包括锂、硼、镉、钆、钐、铕、以及镝中的至少某一个。在该情况下，荧光物质根据中子射线作用能够使荧光的发光停止。

在第1方式中，也可为，所述测量部基于在放射线照射到所述感应部之前从所述荧光物质发出的荧光的强度与在放射线照射到所述感应部之后从所述荧光物质发出的荧光的强度之间的关系，对所述放射剂量进行测量。在该情况下，测量装置能够以放射线未照射到感应部时的荧光强度作为基准，基于放射线照射到感应部时的荧光强度来计算出衰减量。由此，测量装置能够以高精度对放射剂量进行测量。

在第1方式中，也可为，还包括照射部，该照射部将所述激励源输出至所述感应部，所述荧光物质通过照射有从所述照射部输出的所述激励源，从而以与所述激励源的强度相对应的强度发出荧光，所述测量部基于照射到所述感应部的所述激励源的强度来对所述衰减量进行测量。在该情况下，测量装置能够以高精度来确定衰减量而与激励源或传输部的稳定性无关。