[发明专利]CT系统参数确定方法及装置

权利要求书

1.一种CT系统参数确定方法，其特征在于，计算机断层扫描CT系统包括：X射线源和探测器，所述方法包括：

控制具有互相垂直的第一平面和第二平面的模体，在所述X射线源和所述探测器的探测面之间移动，并获取所述模体在移动过程中在所述探测面上的X射线投影，其中，在所述模体移动的过程中，所述第一平面和所述第二平面始终垂直于所述探测面；

根据获取到的X射线投影确定第一直线和第二直线，其中，所述第一直线为：获取到的X射线投影的边界线段中所述第一平面的边的投影线段所在的直线，所述第二直线为：获取到的X射线投影的边界线段中所述第二平面的边的投影线段所在的直线，且所述第一直线与所述X射线源的焦点确定的平面垂直于所述探测面，所述第二直线与所述X射线源的焦点确定的平面垂直于所述探测面；

将所述第一直线与所述第二直线的交点，确定为所述X射线源的焦点在所述探测面上的垂足坐标，所述CT系统参数包括所述垂足坐标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述CT系统参数还包括：所述探测器的面内旋转角，所述方法还包括：

在所述模体的任一X射线投影的边界线段中确定任一线段；

根据所述任一线段，确定所述面内旋转角。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述CT系统参数还包括：所述X射线源的焦点与所述探测面间的距离，所述方法还包括：

移动所述模体，使所述模体上的标记点与第一坐标点重合，并获取所述模体在所述探测面上的第一X射线投影；

控制所述模体上的所述标记点从所述第一坐标点移动至第二坐标点，并获取所述模体在所述探测面上的第二X射线投影；

根据所述第一X射线投影、所述第二X射线投影、所述第一坐标点和所述第二坐标点的几何关系，确定所述X射线源的焦点与所述探测面间的距离。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述CT系统参数还包括：所述X射线源的焦点与所述CT系统的旋转中心点间的距离，所述第一坐标点位于：穿过所述旋转中心点且平行于所述第一平面的平面上，在所述获取所述模体在所述探测面上的第二X射线投影之后，所述方法还包括：

根据所述第一X射线投影、所述第二X射线投影、所述第一坐标点和所述第二坐标点的几何关系，确定所述焦点与所述旋转中心点间的距离。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述第一坐标点与所述旋转中心点重合。

6.根据权利要求3至5任一所述的方法，其特征在于，

所述标记点位于一个所述第一平面。