[发明专利]LED显示装置及其亮度校正方法在审

专利信息
申请号: 201780088951.0 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN110462722A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 町田直之;涉江重教;浅村吉范 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G09G3/32 分类号: G09G3/32;G09G3/20
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 马建军;邓毅<国际申请>=PCT/JP2
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 亮度校正系数 老化 点亮 温度检测部 亮度降低 亮度校正 计算部 存储 亮度测定 时间存储 特性波动 显示模块 存储部 画质 校正 检测
【权利要求书】:

1.一种LED显示装置(100),该LED显示装置(100)具备:

显示部(10),其具有至少一个具备多个LED元件的显示模块;

第1驱动部(5),其根据从影像信号处理部(3)接收的影像信号,驱动所述显示部(10)具备的所述多个LED元件;

第1温度检测部(31),其检测所述显示部(10)的温度;

第1老化显示部(21),其具备至少一个与所述LED元件同等的测定用LED元件;

第2老化显示部(22),其具备至少一个与所述LED元件同等的测定用LED元件;

第2驱动部(8),其驱动所述第1老化显示部(21)和第2老化显示部(22)具备的所述测定用LED元件;

亮度测定部(9),其测定所述第1老化显示部(21)和第2老化显示部(22)具备的所述测定用LED元件的亮度;

第2温度检测部(32),其检测所述第1老化显示部(21)和第2老化显示部(22)各自的温度;

累积点亮时间存储部(6),其对于所述显示部(10)具备的所述多个LED元件中的各个LED元件,存储累积点亮时间;

亮度降低率存储部(11),其存储所述第1老化显示部(21)和所述第2老化显示部(22)具备的所述测定用LED元件的累积点亮时间与基于所述亮度测定部(9)的测定结果的所述测定用LED元件的亮度降低率之间的关系;

亮度校正系数计算部(12),其对于所述显示部(10)具备的所述多个LED元件中的各个LED元件,参照所述累积点亮时间存储部(6)和所述亮度降低率存储部(11),计算亮度校正系数;以及

亮度校正部(4),其以根据所述亮度校正系数校正所述多个LED元件各自的亮度的方式控制所述第1驱动部(5),

所述亮度校正系数计算部(12)根据所述第1温度检测部(31)检测到的温度和所述第2温度检测部(32)检测到的温度,校正所述显示部(10)具备的所述多个LED元件各自的所述亮度校正系数。

2.根据权利要求1所述的LED显示装置(100),其中,

至少一个所述显示模块为多个,

组合多个所述显示模块而构成一个画面,

所述第1温度检测部(31)检测多个所述显示模块各自的温度,

亮度校正系数计算部(12)以使多个所述显示模块具备的全部所述LED元件各自的亮度彼此相等的方式计算所述亮度校正系数。

3.根据权利要求1或2所述的LED显示装置(100),其中,

所述亮度校正系数计算部(12)通过参照所述亮度降低率存储部(11),对所述第1老化显示部(21)和第2老化显示部(22)分别检测故障,

所述亮度校正系数计算部(12)在检测到故障的情况下,对于所述亮度降低率存储部(11)和所述第2温度检测部(32),参照与正常的老化显示部相关的信息,求出所述亮度降低率。

4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的LED显示装置(100),其中,

亮度校正系数计算部(12)参照所述第1温度检测部(31)检测到的温度和所述第2温度检测部(32)检测到的温度,根据预先确定的温度校正函数,校正所述亮度校正系数。

5.根据权利要求4所述的LED显示装置(100),其中,

所述温度校正函数是表示在与所述LED元件同等的2个LED元件的温度差比预先确定的温度大的情况下,相对于累积点亮时间的亮度降低率之差的函数。

6.根据权利要求1~5中的任意一项所述的LED显示装置(100),其中,

所述亮度校正系数计算部(12)以所述多个LED元件中的所述亮度降低率最大的所述LED元件的亮度为基准,计算全部的所述LED元件各自的亮度校正系数。

7.根据权利要求1~5中的任意一项所述的LED显示装置(100),其中,

亮度校正系数计算部(12)以使所述显示部具备的所述多个LED元件中的各个LED元件维持预先设定的亮度的方式计算所述亮度校正系数。

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