[发明专利]等效性验证装置和计算机能读取的存储介质有效
申请号: | 201780089570.4 | 申请日: | 2017-04-19 |
公开(公告)号: | CN110520850B | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
发明(设计)人: | 米持一树;矶田诚 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 马建军;邓毅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 等效 验证 装置 计算 机能 读取 存储 介质 | ||
1.一种等效性验证装置,该等效性验证装置具有检查部,该检查部使用检查封装器进行等效性检查,由此,检查第1函数与第2函数的等效性,该检查封装器是包含用于反复调用所述第1函数和所述第2函数的循环语句的程序代码,
所述第1函数包含于第1程序,在所述第1程序中多次执行所述第1函数,所述第1函数使用值在每次执行所述第1函数时发生变化的第1状态变量,输出与所述第1状态变量的值对应的值,
所述第2函数包含于第2程序,在所述第2程序中多次执行所述第2函数,所述第2函数使用值在每次执行所述第2函数时发生变化的第2状态变量,输出与所述第2状态变量的值对应的值;
其中,该等效性验证装置具有生成部,该生成部通过记述所述循环语句而生成所述检查封装器,所述生成部还将对调用所述第1函数和所述第2函数的次数进行定义的定义语句记述在所述检查封装器中。
2.根据权利要求1所述的等效性验证装置,其中,
所述检查部按照调用了所述第1函数和所述第2函数的次数,判定所述第1函数与所述第2函数的等效性。
3.根据权利要求2所述的等效性验证装置,其中,
所述检查部根据调用了所述第1函数和所述第2函数的次数每次的判定结果,确定所述第1函数与所述第2函数不等效时的调用次数。
4.根据权利要求1所述的等效性验证装置,其中,
所述生成部还将用于对所述第1状态变量和所述第2状态变量进行初始化的初始化语句作为在所述循环语句之前执行的语句记述在所述检查封装器中。
5.根据权利要求4所述的等效性验证装置,其中,
所述初始化语句是调用对所述第1状态变量进行初始化的第1初始化函数和对所述第2状态变量进行初始化的第2初始化函数的语句。
6.根据权利要求5所述的等效性验证装置,其中,
所述生成部还将用于包含含有说明语句的检查头的包含语句记述在所述检查封装器中,该说明语句用于参照所述第1初始化函数和所述第2初始化函数。
7.根据权利要求1至6中的任意一项所述的等效性验证装置,其中,
所述生成部还将事前条件语句和事后条件语句记述在所述检查封装器中,该事前条件语句对所述第1函数和所述第2函数的输入值彼此相等这样的事前条件进行定义,该事后条件语句对所述第1函数和所述第2函数的输出值彼此相等这样的事后条件进行定义。
8.根据权利要求1所述的等效性验证装置,其中,
所述等效性验证装置具有分析部,该分析部求出第1循环数和第2循环数,根据所述第1循环数和所述第2循环数决定所述检查封装器调用所述第1函数和所述第2函数的次数,该第1循环数是所述第1状态变量的值返回初始值时所述第1函数的调用次数,该第2循环数是所述第2状态变量的值返回初始值时所述第2函数的调用次数,
所述生成部将对所决定的次数进行定义的语句作为所述定义语句记述在所述检查封装器中。
9.根据权利要求8所述的等效性验证装置,其中,
所述分析部通过使用第1分析封装器进行等效性检查而求出所述第1循环数,通过使用第2分析封装器进行等效性检查而求出所述第2循环数,该第1分析封装器是包含用于反复调用所述第1函数的第1循环语句的程序代码,该第2分析封装器是包含用于反复调用所述第2函数的第2循环语句的程序代码。
10.一种存储有等效性验证程序的计算机能读取的存储介质,其中,该等效性验证程序用于使计算机执行检查处理,在该检查处理中使用检查封装器进行等效性检查,由此,检查第1函数与第2函数的等效性,该检查封装器是包含用于反复调用所述第1函数和所述第2函数的循环语句的程序代码,
所述第1函数包含于第1程序,在所述第1程序中多次执行所述第1函数,所述第1函数使用值在每次执行所述第1函数时发生变化的第1状态变量,输出与所述第1状态变量的值对应的值,
所述第2函数包含于第2程序,在所述第2程序中多次执行所述第2函数,所述第2函数使用值在每次执行所述第2函数时发生变化的第2状态变量,输出与所述第2状态变量的值对应的值;
其中,该等效性验证程序还用于使所述计算机执行生成处理,在该生成处理中通过记述所述循环语句而生成所述检查封装器,在该生成处理中还将对调用所述第1函数和所述第2函数的次数进行定义的定义语句记述在所述检查封装器中。
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