[发明专利]四极杆质谱分析装置

说明书

一边利用CD电压调整部(96)使对检测部(6)的转换打拿极(61)施加的CD电压一点点地变化，一边在分析控制部(94)的控制下重复进行标准试样的测定。而且，每当获得实测的质谱时，谱图案判定部(93)判定实测质谱的图案是否与化合物数据库(92)中的该标准试样的标准质谱的图案一致，将视为一致的时刻的CD电压确定为其设定值。在改变向离子透镜(3)施加的施加电压来调整了质谱的图案的情况下，由于透镜电极的污染等，灵敏度等性能往往不稳定，但由于检测部(6)不易受到这样的污染的影响，因此能够避免性能的不稳定。

技术领域

本发明涉及一种将四极杆滤质器用作质量分离器的四极杆质谱分析装置。在本说明书中，“四极杆质谱分析装置”是指如下的质谱分析装置：在离子检测器的正前方配置的质量分离器是四极杆滤质器，“四极杆质谱分析装置”不仅包括单型的四极杆质谱分析装置，还包括隔着碰撞分析室在前后配置有四极杆滤质器的三重四极杆质谱分析装置。

背景技术

在气相色谱质谱联用仪(GC-MS)等中使用的普通的四极杆质谱分析装置中，在离子源中从试样气体中包含的化合物生成离子，使该生成的各种离子在四极杆滤质器中根据质荷比m/z分离，并在离子检测器中对该分离出的离子进行检测。通过在四极杆滤质器中重复进行遍及规定的质荷比范围的质量扫描，能够重复地获取表示质荷比与信号强度的关系的质谱。在这样的质谱分析装置中进行化合物鉴定时，经常进行数据库检索(库检索)，在该数据库检索中，将所得到的质谱的谱图案与已知的化合物数据库中收录的质谱的谱图案进行比较，搜索该图案类似的化合物(参照专利文献1等)。

在以这样的目的使用的化合物数据库中存在各种各样的质谱，但是所收录的质谱大多为用旧式的质谱分析装置测定出的质谱。在这种情况下，通过利用相对较高的精度和灵敏度的质谱分析装置测定某种化合物所得到的质谱与化合物数据库中收录的该化合物的质谱在图案上往往显著不同。因此，在利用收录有由这种旧式的质谱分析装置测定出的质谱的化合物数据库来进行化合物鉴定的情况下，调整要实施测定的质谱分析装置自身，使得针对相同化合物的实测的质谱的谱图案与化合物数据库中的质谱的谱图案尽可能一致。

上述调整可以说是有意地降低质谱分析装置的性能的调整，通常，为了将由离子源生成的离子高效地导入四极杆滤质器中，大多调整对构成配置于两者之间的离子透镜的透镜电极施加的电压。当使该电压变化时，离子透镜的收敛性变化，但该收敛性的变化程度根据质荷比的不同而不同。因此，当改变向透镜电极施加的施加电压时，向四极杆滤质器导入离子的导入效率根据质荷比发生变化，结果是，所获得的质谱的谱图案变化。另外，通过使对透镜电极施加的电压与质量扫描同步地适当地变化，也能够使质谱的谱图案变化。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2005-83952号公报([0002]-[0003])

专利文献2：日本特开2002-329474号公报

发明内容

发明要解决的问题

如上所述，通过调整对透镜电极施加的施加电压，能够调整质谱的谱图案。在这种调整中，由于透镜电极的电压被设定为在离子通过效率上不是最佳的状态，因此存在性能不稳定的倾向，例如当透镜电极被污染时，检测灵敏度整体降低，无法检测一部分化合物，或者质谱的谱图案发生变化。另一方面，用于收敛从离子源射出的离子的透镜电极暴露在许多离子中，而且未被离子化的试样成分分子或在气相色谱仪中使用的载气等也碰撞透镜电极，因此容易加重污染。因此，存在以下问题：为了针对例如某种化合物稳定地获得与数据库中的质谱相同的谱图案的实测质谱，必须要以高频率重新调整质谱分析装置。

本发明是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一种能够稳定地调整用于化合物鉴定等的质谱的谱图案的四极杆质谱分析装置。