[发明专利]质谱分析装置以及质谱分析方法

权利要求书

1.一种质谱分析方法，将由离子源生成的离子经由具有多个离子透镜的离子光学系统输送到质量分离部来进行质量分离并进行检测，所述质谱分析方法的特征在于，

针对第一离子透镜调整施加电压，以使得规定质荷比的离子的检测灵敏度满足预先决定的必要条件，其中，所述第一离子透镜为所述多个离子透镜中的一个离子透镜，

针对第二离子透镜施加使离子的检测灵敏度相对于对该第二离子透镜施加的电压的变化在预先决定的范围内的电压，其中，所述第二离子透镜为所述多个离子透镜中的除所述第一离子透镜以外的一个离子透镜。

2.根据权利要求1所述的质谱分析方法，其特征在于，

所述预先决定的必要条件是获得规定的谱图案，并且调整对所述第一离子透镜施加的电压以使得所述规定质荷比的离子的检测灵敏度比通过变更对该第一离子透镜施加的电压而获得的最大检测灵敏度低。

3.一种质谱分析装置，其特征在于，具备：

a)离子源；

b)离子光学系统，其配置在所述离子源的后级，具有包括第一离子透镜和第二离子透镜在内的多个离子透镜；

c)质量分离部，其配置在所述离子光学系统的后级；

d)检测部，其检测通过了所述质量分离部的离子；

e)电压施加部，其对所述第一离子透镜和所述第二离子透镜分别施加电压；以及

f)控制部，其控制所述电压施加部，使得对所述第一离子透镜施加使所述检测部中的规定质荷比的离子的检测灵敏度满足预先决定的必要条件的电压，并对所述第二离子透镜施加使离子的检测灵敏度相对于对该第二离子透镜施加的电压的变化在预先决定的范围内的电压。

4.根据权利要求3所述的质谱分析装置，其特征在于，

所述预先决定的必要条件是获得规定的谱图案，并且调整对所述第一离子透镜施加的电压以使得所述规定质荷比的离子的检测灵敏度比通过变更对该第一离子透镜施加的电压而获得的最大检测灵敏度低。

5.根据权利要求4所述的质谱分析装置，其特征在于，

将所述检测部中的检测信号放大，以使由于对所述离子透镜施加的电压的调整而降低的离子的检测灵敏度恢复。