[发明专利]系统消息传输方法、装置及系统有效
申请号: | 201780096689.4 | 申请日: | 2017-11-17 |
公开(公告)号: | CN111344974B9 | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 罗之虎;李军;金哲;张维良 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L1/18 | 分类号: | H04L1/18 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 张娜;刘芳 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 系统 消息 传输 方法 装置 | ||
本申请提供一种系统消息传输方法、装置及系统,其中,第一通信设备配置MIB消息,该MIB消息可携带各种不同的用于SIB1传输的信息,例如,上述调度信息、第一信息以及载波的部署模式中的任一个或多个,以使第二通信设备根据该MIB消息接收SIB1。一方面,第一通信设备可灵活配置用于SIB1传输的信息;另一方面,由于第一通信设备在配置MIB消息时,可以考虑通过配置或者隐含指示保证不同小区的SIB1在一个周期内传输的资源位置不同,通过这种干扰隔离机制可以避免不同小区的SIB1的相互干扰,从而可提高SIB1传输的可靠性。
技术领域
本申请涉及通信技术领域,尤其涉及一种系统消息传输方法、装置及系统。
背景技术
移动通信标准化组织第三代合作伙伴计划(3rd Generation Partnership Project,3GPP)提出了窄带物联网(Narrowband Internet of Things,NB-IOT)技术。其中,NB-IoT支持频分双工(Frequency Division Duplex,FDD)及时分双工(Time Division Duplex,TDD)。
对于FDD NB-IoT,系统信息块类型一(System Information Block type1,SIB1)的周期为2560ms。SIB1在无线帧中的子帧4上传输,每隔一个无线帧出现一次,SIB1的一个传输块(Transport Block,TB)占用8个子帧,因此SIB1的一次完整传输需占用16个连续的无线帧。另外,SIB1的重复次数可以为4,8和16,每个重复的副本在2560ms周期内等间隔分布。在FDD NB-IOT中,不同小区间SIB1在一个2560ms周期内传输的资源位置不同,可以避免不同小区SIB1传输的相互干扰,尤其对于小区间同频组网且时间同步的场景,这种干扰隔离机制尤为重要。
在TDD NB-IoT中,上下行子帧配置支持TDD长期演进(Long Term Evolution,LTE)系统的一部分上下行子帧配置。锚点载波上有窄带主同步信号(Narrowband Primary Synchronization Signal,NPSS)、窄带辅同步信号(Narrowband Secondary Synchronization Signal,NSSS)和窄带物理广播信道(Narrowband Physical Broadcast Channel,NPBCH)。在锚点载波上,NSSS在偶数帧的子帧0上传输。SIB1的周期也为2560ms,SIB1的一个传输块占用8个子帧,当SIB1在锚点载波的奇数帧的子帧0上传输,重复次数为16时,由于偶数帧的子帧0被NSSS占用,不同小区的SIB1只能使用相同的资源位置传输,这样将会导致小区间SIB1传输的相互干扰的问题。
发明内容
本申请提供一种系统消息传输方法、装置及系统,以避免不同小区间SIB1传输的相互干扰,提高SIB1传输的可靠性。
第一方面,本申请提供一种系统消息传输方法,包括:
第一通信设备配置MIB消息,
其中,所述MIB消息包括SIB1的调度信息;或者,所述MIB消息包括载波的部署模式和第一信息中的至少一个以及所述调度信息;
所述第一信息包括以下信息中的至少一种:用于所述SIB1传输的状态信息;用于所述SIB1传输的时域位置信息;用于所述SIB1传输的非锚点载波的频域位置信息;用于所述SIB1传输的非锚点载波上所述SIB1的传输方式信息;
所述第一通信设备发送所述MIB消息给第二通信设备;
所述第一通信设备根据所述调度信息,或者根据所述载波的部署模式和所述第一信息中的至少一个以及所述调度信息,传输所述SIB1给所述第二通信设备。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201780096689.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:检查网格模型
- 下一篇:半导体装置及其制造方法