[发明专利]降噪方法、降噪装置和光检测系统

说明书

本发明提供一种降噪方法、降噪装置和光检测系统。降噪方法包括:设定单元设定选通关态电压；设定单元设定测试用选通开态电压；信噪比检测单元检测分别对应于至少两个所述测试用选通开态电压的输出电压的信噪比；选择单元选择对应于最高的所述信噪比的一所述测试用选通开态电压作为光检测用选通开态电压；所述测试用选通开态电压在预定电压范围内；所述输出电压为所述光电检测单元检测得到的放大后的所述输出节点的电压。本发明所述的降噪方法、降噪装置和光检测系统能够选定时钟控制信号的较佳的开态电压和关态电压，以达到光检测输出信噪比最佳化的结果。

技术领域

本发明涉及光检测技术领域，尤其涉及一种降噪方法、降噪装置和光检测系统。

背景技术

现有的APS(Active Pixel Senor，主动式像素检测)电路，而APS电路的跟随可以有效的阻隔其他电路或像素对自身影响，其中利用了需要时钟控制信号去进行重置与选通的开关器件，由于工艺mobility(迁移率)不足，因此会需要利用比较大的开态电压对以上开关器件进行开启，而时钟控制信号的较大的开态电压与关态之间的电压差值便会影响光检测输出的结果且增加额外的噪声。时钟控制信号在开启或关闭相应的开关器件时会造成额外的信号到光检测电路的输出电压中，并且时钟控制信号的开态电压与关态之间的电压差值和输出噪声之间并没有规律，加上屏集成APS电路的器件数目限制，无法利用其他方法消除以上噪声。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种降噪方法、降噪装置和光检测系统，解决现有的光检测电路由于时钟控制信号而产生噪声的问题。

为了达到上述目的，本发明提供了一种降噪方法，应用于光检测电路，所述光检测电路包括的选通单元的控制端与选通控制端连接，所述选通单元的第一端与输出节点连接，所述选通单元的第二端与跟随节点连接；所述光检测电路包括的光电检测单元用于对所述输出节点的电压进行放大，并检测放大后的所述输出节点的电压；所述降噪方法包括:

设定单元设定选通关态电压Vg1，以使得当所述选通控制端上的选通控制信号的电位为该选通关态电压Vg1时，所述选通单元控制断开所述输出节点与所述跟随节点之间的连接；

所述设定单元设定测试用选通开态电压，以使得当所述选通控制信号的电位为所述测试用选通开态电压时，所述选通单元控制其包括的选通晶体管完全打开；所述测试用选通开态电压的个数为至少两个；

信噪比检测单元检测分别对应于至少两个所述测试用选通开态电压的输出电压的信噪比；

选择单元选择对应于最高的所述信噪比的一所述测试用选通开态电压作为光检测用选通开态电压；

所述测试用选通开态电压在预定电压范围内；所述输出电压为所述光电检测单元检测得到的放大后的所述输出节点的电压。

实施时，所述设定单元设定测试用选通开态电压，以使得当所述选通控制信号的电位为所述测试用选通开态电压时，所述选通单元控制其包括的选通晶体管完全打开步骤具体包括至少两个测试用选通开态电压设定步骤；

一所述测试用选通开态电压设定步骤包括：

起始选通设定步骤：所述设定单元设定起始选通开态电压和第一循环次数；起始选通时钟电压差V0等于所述起始选通开态电压与所述选通关态电压Vg1之间的电压差值；所述第一循环次数为大于1的整数；

选通设置步骤：所述设定单元将选通时钟电压差设置为0.5V0，此时所述选通开态电压等于0.5V0+Vg1；第一计数单元设定第一计数值为1；

选通结果得到步骤：所述设定单元根据当所述选通控制信号的电位与所述选通关态电压Vg1之间的电压差值为所述选通时钟电压差时，所述光电检测单元检测得到的输出电压，得到当所述选通控制信号的电位为所述测试用选通开态电压时，所述选通单元是否能够控制其包括的选通晶体管完全打开的判断结果；