[发明专利]一种叶片原位接触式三维测量装置和方法有效
申请号: | 201810003675.X | 申请日: | 2018-01-03 |
公开(公告)号: | CN108278979B | 公开(公告)日: | 2019-10-08 |
发明(设计)人: | 赵欢;李昊;陈茜;丁汉 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01B11/245 | 分类号: | G01B11/245 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 周磊;曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 叶片 测量机构 旋转平台 二维运动平台 三维测量装置 原位接触 读取 旋转编码器 半径补偿 表面轮廓 测量过程 测量装置 工作台面 回转运动 平台设置 线性位移 叶片安装 叶片测量 坐标变换 光栅尺 工作台 恒力 球头 测量 移动 | ||
1.一种叶片原位接触式三维测量装置,包括工作台面、XY二维水平运动平台、测量机构、旋转平台、控制器、标定杆和原位接触式三维测量程序模块,其特征在于,
所述XY二维水平运动平台包括X向运动平台和Y向运动平台,所述Y向运动平台安装在所述工作台面上并且其可沿Y轴移动,所述X向运动平台设置在Y向运动平台的滑块上并且其可沿X轴移动,所述X轴、Y轴与竖直方向的Z轴共同构成工作坐标系;
所述测量机构包括第一支架和测针,所述第一支架设置在所述X向运动平台的滑块上,所述测针设置在所述第一支架上,以用于与所述叶片接触来测量叶片的轮廓;
所述旋转平台通过第二支架安装在所述工作台面上,以用于安装待测试的叶片,并且该旋转平台的旋转中心线与X轴平行;
所述控制器通过所述X向运动平台和Y向运动平台可分别获得测量机构的位移x和位移y,并且通过所述旋转平台可获得叶片的旋转角度为θ;
所述测量机构上设置有力传感器,以用于获取测量机构与叶片的接触力,所述力传感器把该接触力实时反馈给控制器,控制器通过调控Y向运动平台的运动使得测针与叶片保持恒力接触,测量结果由X向运动平台的位移量x、Y向运动平台的位移量y和旋转平台的旋转角度θ表示,再以(x,y,θ)的形式实时输出并储存;
所述标定杆设置在所述第二支架上,并且其平行于X轴设置,所述标定杆的顶尖与工作坐标系的原点的连线平行于Y轴;
所述原位接触式三维测量程序模块在被所述控制器调用时,执行如下测量步骤:
S1:使测针的球形针尖的中心在标定杆的中心线上,同时使叶片的排气边与标定杆对齐,将位置记为零点,记录此时所述球形针尖的中心的坐标为(x0,y0,θ0)=(0,-L,0),其中L为标定杆与工作坐标系原点的距离;
S2:控制X向运动平台以Δx为增量进给运动n次,直至测针对叶片的排气边、进气边和叶背的测量完成,则在各位置处,控制器驱动Y向运动平台运动,使测针与叶片的排气边接触,同时控制器控制旋转平台转动,使测针从叶片的排气边沿着叶背运行到叶片的进气边,并且测针在叶背轨迹线上运行的过程中,力传感器把测针与叶片的接触力实时反馈给控制器,控制器通过调控Y向运动平台的运动使得测针与叶片保持恒力接触;此外,数据采集卡以固定的频率从光栅尺和旋转编码器读取,得到Y向运动平台的位移量数据集y1和旋转平台的回转角度数据集θ1,其中1≤n≤xmax/Δx,xmax为叶片X向的最大位移,k1=1,2,...n;
S3:将数据[x1,y1,θ1]以固定格式输出并保存,其中,
式中,A1表示第一组数据集,x1为X向运动平台的位移量数据集,i表示在叶背、进气边和排气边上采集到的所有数据点的总数量;
S4:将X向运动平台运动到零点,调整旋转平台与Y向运动平台使得测针与叶盆和进气边的交线接触,控制X向运动平台以Δx为增量进给运动n次,直至叶片的叶背型面测量完成,则在各位置处,控制器驱动Y向运动平台运动,使测针与叶片的排气边接触,同时控制器控制旋转平台转动,使测针从叶片的进气边沿着叶背运行到叶片的排气边,并且测针在叶背轨迹线上运行的过程中,力传感器把测针与叶片的接触力实时反馈给控制器,控制器通过调控Y向运动平台的运动使得测针与叶片保持恒力接触;同时数据采集卡以固定的频率从光栅尺和旋转编码器读取Y向运动平台的位移量和旋转平台的回转角度,得到Y向运动平台的位移量数据集y2和旋转平台的回转角度数据集θ2,其中k2=1,2,...n;
S5:将采集到的数据[x2,y2,θ2]以固定格式输出并保存,其中,
式中,A2表示第二组数据集,x2为X向运动平台的位移量数据集,j表示在叶盆上采集到的所有数据点的总数量;
S6:分别对两组数据集A1和A2进行预处理,剔除数据中的异常点,并使用高斯滤波的方法对异常点进行补充,然后对两组数据进行拼接,则有:
式中,A表示总数据集;
S7:总数据集A中的每一组数据表示对应测量点相对于标定点(x0,y0,θ0)的位移增量,则在工作坐标系下的每个测量点P(xw,yw,θ)表示为
然后对测量点进行坐标变换,将每个测量点P(xw,yw,θ)表示成叶片坐标系中的三维坐标点P(x′,y′,z′),则有
S8:通过三维重建获得叶片轮廓的三维模型。
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