[发明专利]一种用于集成电路测试仪的自动诊断方法

权利要求书

1.一种用于集成电路测试仪的自动诊断方法，其特征在于，包括外部的程控数字表、电源自动诊断，机内自动诊断；

所述的电源自动诊断：首先进行阻抗测量，程控数字表置于阻抗档，开始切继电器，测完一路切换另外一路，直至全部完成；将结果和预置的结果对比，如全在范围内，则开始电压测量，电压测量的流程和电阻测量一样；最后上位机软件将所有的测试结果与预置正确的数值区间进行比较，得到诊断结果；

在电源自动诊断结果没有问题的前提下，进行机内自动诊断，所述的机内自动诊断包括储存单元自动诊断，PE逻辑自动诊断、PPMU模拟自动诊断。

所述的存储单元自动诊断：FPGA产生批量数据写进储存单元不同地址，覆盖了全部的存储空间，然后再读出这些数据到FPGA中进行比较，全部吻合，则存储单元的读写逻辑没有问题，焊接和存储芯片本身也无问题，诊断结束；

所述的PE逻辑自动诊断包括FPGA产生波形、驱动芯片ADATE305、比较器；FPGA产生预置频率的方波波形输入到驱动芯片ADATE305，驱动芯片调整波形的电平大小以符合外部芯片的输入要求，同时这个输出波形再经过比较器将输出方波与预设的电平做比较，波形电压比预设的电平高就输出高，反之输出低，输出符合FPGA的电平标准的方波最后再输入到FPGA，FPGA进行频率测量，如果频率和预置的方波频率相同，则发送和接收链路都没有问题，PE逻辑功能自动诊断结束；

所述的PPMU模拟自测试包括驱动芯片ADATE305、多路选择器、ADC采集单元；这里的驱动芯片ADATE305就是PE逻辑功能自诊断里的驱动芯片ADATE305，它输出预置的电压，多路选择器每次选择一路进入ADC采集单元，FPGA读取此路测量结果做出判断后，将判断结果记录下来，多路选择器再选择下一路，继续测量，直到测完所有的通道；PPMU模拟自动诊断结束。