[发明专利]一种直流电子式互感器延时时间测试方法及装置

权利要求书

1.一种直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，包括：

S1：对直流电子式互感器的一次侧施加阶跃信号，从所述直流电子式互感器的二次侧进行采样得到阶跃标准源信号和阶跃试品信号；

S2：对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线，分别取所述标准源拟合曲线和所述试品拟合曲线的90％峰值对应的点作为参考点，得到标准源参考点和试品参考点；

S3：对所述试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在所述阶跃标准源信号中确定与所述标准源参考点最靠近的采样点，将所述采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

S4：将所述被试互感器阶跃终止时刻与所述标准源阶跃终止时刻之差作为所述直流电子式互感器的延时时间。

2.根据权利要求1所述的直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，所述对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线具体为：

通过预置第一公式对所述阶跃标准源信号和所述阶跃试品信号的所有采样点的横坐标进行广义多项式曲线拟合，得到标准源拟合曲线和试品拟合曲线；

其中，所述预置第一公式为：

式中，f为标准源拟合曲线或试品拟合曲线，x_i为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的横坐标，a_j为多项式系数，m为多项式阶数。

3.根据权利要求2所述的直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，在进行广义多项式曲线拟合时，通过预置第二公式控制所述阶跃标准源信号和所述标准源拟合曲线之间的残差、所述阶跃试品信号和所述试品拟合曲线之间的残差；

其中，所述预置第二公式为：

式中，y_i为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的各个采样点的纵坐标，f_i为标准源拟合曲线或试品拟合曲线的各个点的纵坐标，N为阶跃标准源信号或阶跃试品信号的长度，w_i为权重。

4.根据权利要求1所述的直流电子式互感器延时时间测试方法，其特征在于，步骤S3具体为：

通过预置第三公式组对所述试品参考点的纵坐标进行三次样条插值，得到被试互感器阶跃终止时刻，在所述阶跃标准源信号中确定与所述标准源参考点最靠近的采样点，将所述采样点的横坐标作为标准源阶跃终止时刻；

其中，所述预置第三公式组为：

f(x_i)＝y_i

g(x_i)＝y_i＝p_i(x_i)

g′(x_i)＝p′_i(x_i)＝p′_i-1(x_i)

g″(x_i)＝p″_i(x_i)＝p″_i-1(x_i)

y＝Ay_i+By_i+1+Cy″_i+Dy″_i+1

式中，B＝1-A，x为试品参考点的纵坐标，y为被试互感器阶跃终止时刻。