[发明专利]一种雷击影响过程重现的方法在审

专利信息
申请号: 201810010551.4 申请日: 2018-01-05
公开(公告)号: CN110008484A 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 唐月奎;雷全学;崔利俊;吴波 申请(专利权)人: 深圳康普盾科技股份有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 冯筠
地址: 518000 广东省深圳市南山区侨城北路*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 雷击数据 雷击 雷电监测仪 电路拓扑 雷击位置 重现 服务器 保存 影响过程 监测点 采集 冲击和影响 读取服务器 服务器接收 信息发送 待测点 对设备 检测点 构建 上传 分析
【权利要求书】:

1.一种雷击影响过程重现的方法,其特征在于,包括:

安装雷电监测仪至待监测点;

构建监测点的电路拓扑图;

上传电路拓扑图至服务器并保存;

雷电监测仪采集雷击数据并保存;

雷电监测仪将雷击数据、雷击位置信息发送至服务器;

服务器接收雷击数据、雷击位置信息并保存;

读取服务器的雷击数据、雷击位置信息、电路拓扑图;

根据雷击数据、雷击位置信息将雷击过程重现于电路拓扑图。

2.根据权利要求1所述雷击影响过程重现的方法,其特征在于,所述雷电监测仪设有通讯模块。

3.根据权利要求1所述雷击影响过程重现的方法,其特征在于,所述雷击数据包括电流、发生时间、持续时间。

4.根据权利要求1所述雷击影响过程重现的方法,其特征在于,所述电路拓扑图包括电监测仪的位置数据。

5.根据权利要求4所述雷击影响过程重现的方法,其特征在于,所述根据雷击数据、雷击位置信息将雷击过程重现于电路拓扑图步骤,包括:

重现电路拓扑图;

根据雷击位置信息与预存的电监测仪位置数据将雷击数据形成雷击过程重现于电路拓扑图。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳康普盾科技股份有限公司,未经深圳康普盾科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810010551.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top