[发明专利]温度测量方法及装置、存储介质、温度测量装置检验方法

说明书

本发明提供一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法，所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤：对所述振荡器温度传感器充电后，在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。本发明还提供一种利用振荡器温度传感器测量温度的方法、一种温度测量装置、一种存储介质和一种温度测量装置的检验方法。长时间使用后，所述温度测量装置仍然具有较高的检测精度。

技术领域

本发明涉及温度检测领域，具体地，涉及一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法、一种存储介质和一种温度测量方法、一种温度测量装置和一种温度测量装置的检验方法。

背景技术

振荡器温度传感器的工作原理时，温度变化引起振荡器中薄膜晶体管电流的变化，从而引起振荡器温度传感器输出的电压信号的频率发生变化。

利用振荡器温度传感器检测温度的方法包括以下流程：

检测振荡器温度传感器输出的电压信号；

对电压信号进行处理，传输给FPGA进行周期计数得出电压频率值；

根据电压频率值确定温度。

振荡器温度传感器中的薄膜晶体管多为玻璃基薄膜晶体管，而玻璃基薄膜晶体管的迁移率对该玻璃基薄膜晶体管的充放电时间有较大影响，刚上电时检测到的频率呈上升趋势，只有充放电时间达到稳定时，输出频率才会稳定，这就造成了检测持续时间较长这一现象。

长时间加电会导致玻璃基薄膜晶体管的阈值电压发生漂移，进而造成了重复升温降温测试的结果有偏差，降低了振荡器温度传感器的检测精度。

因此，如何确保长时间使用后的振荡器温度传感器的仍然具有较高的检测精度成为本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法、一种存储介质和一种温度测量方法、一种温度测量装置和一种温度测量装置的检验方法。所述温度测量装置经过长时间工作后仍然具有较高的检测精度。

为了实现上述目的，作为本发明的第一个方面，提供一种确定不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系的方法，其中，所述方法包括在多个不同的预定温度下均进行的以下步骤：

对所述振荡器温度传感器充电后，在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；

根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。

优选地，所述方法包括重复多次对所述振荡器温度传感器上电后、在不同时刻测量所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率的步骤；

在根据不同时刻测得的频率确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系的步骤中，利用同一时刻测得的频率的平均值确定所述预定温度下所述振荡器温度传感器的充电时间与所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率之间的对应关系。

作为本发明的第二个方面，提供一种利用振荡器温度传感器测量温度的方法，其中，所述方法包括：

获取充电第一预定时间段后所述振荡器温度传感器输出的电压信号的频率；

根据本发明第一个方面所提供的方法获得的不同的预定温度下振荡器温度传感器输出的电压信号的频率与充电时间之间的对应关系确定所述振荡器温度传感器充电第一预定时间段后输出的电压信号的频率对应的温度。