[发明专利]测试设备、设备的测试方法及装置、存储介质

权利要求书

1.一种测试设备，其特征在于，包括：

用于与被测设备的第一连接端口；

用于与测试辅助设备连接的第二连接端口；

开关阵列，包括多个受控开关；

滤波器阵列，通过所述开关阵列与所述第一连接端口相连；

隔离器阵列，通过所述开关阵列分别与所述第一连接端口及所述第二连接端口连接；

其中，所述开关阵列，用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述滤波器阵列连接到测试路径中的滤波器；位于所述测试路径中的滤波器，用于过滤特定频段的信号；

所述开关阵列，还用于通过所述受控开关的开关状态，调节所述隔离器阵列连接到所述测试路径中的隔离器；位于所述测试路径中的隔离器，用于将所述被测设备的输出信号调节为预定信号后传输到连接在所述第二连接端口的所述测试辅助设备。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

负载网络，包括一个或多个负载，用于连接形成所述测试路径以外的非测试路径。

3.根据权利要求2所述的被测设备，其特征在于，所述被测设备包括：待测的第一设备端口和所述第一设备端口以外的第二设备端口；所述第一设备端口所连接的路径为所述测试路径；

所述负载网络包括：

吸收负载，用于与所述第二设备端口连接，以吸收所述非测试路径上的信号。

4.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述负载网络还包括：

防空载负载，通过连接到非测试路径，用于吸收所述被测设备提供的非测试信号。

5.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，

所述负载网络包括：一个或多个衰减器。

6.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，还包括：

匹配网络，与所述第一连接端口及所述开关阵列连接，用于阻抗匹配和反射保护。

7.根据权利要求6所述的测试设备，其特征在于，

所述匹配网络包括：

第一匹配网络，通过所述开关阵列与第一部分的所述第一连接端口连接；

第二匹配网络，通过所述开关阵列中第二部分的所述第一连接端口连接；

所述开关阵列，还包括：

受控开关组，用于在第一状态时，通过自身的开关状态连接所述第一匹配网络与所述滤波器阵列，并连接所述第二匹配网络与所述隔离器阵列；在第二状态时，通过自身的开关状态连接所述第二匹配网络与所述滤波器阵列，并连接所述第一匹配网络与所述隔离器阵列。

8.根据权利要求1至7任一项所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括：

第一耦合器；

第二耦合器；其中，所述第一耦合器和所述第二耦合器均包括：第一连接点、第二连接点及第三连接点；

可调衰减器件，连接在所述第一耦合器的第三连接点和所述第二耦合器的第三连接点之间，用于衰减传导到反射路径上的信号，以测量所述被测设备的收发隔离抑制比；

所述第一耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列与所述第一连接端口连接，所述第一耦合器的第二连接点，通过开关阵列与所述滤波阵列连接；

所述第二耦合器的第一连接点，通过所述开关阵列与所述第一连接端口连接，所述第二耦合器的第二连接点，通过开关阵列与所述隔离器阵列连接。

9.根据权利要求1至7任一项所述的测试设备，其特征在于，所述测试设备还包括：

控制器，与所述开关阵列连接，用于根据所述被测设备的测试需求参数，向所述开关阵列发送控制信号，其中，所述控制信号，用于控制所述受控开关的开关状态。

10.一种设备的测试方法，其特征在于，包括：

根据被测设备的测试需求参数及被测设备的设备参数，生成控制信号；

根据所述控制信号调节所述测试设备的开关阵列中受控开关的开关状态，以控制接入到测试路径上的滤波器和隔离器；

利用所述测试路径对所述被测设备进行测试。