[发明专利]OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法

说明书

本发明提供了一种OLED用外观缺陷检测单元，包括图像采集机构，图像采集机构的下方依次设有光源反射机构及暗光源出光机构，光源反射机构置于图像采集机构采集端两侧，暗光源出光机构置于光源反射机构的外侧，图像采集机构与光源反射机构之间还设有第二图像采集机构，第二图像采集机构的采集端置有半透半反射机构。本发明可以很方便的检测到产品多个角度的外观，以更好的对产品进行缺陷检测，整个检测单元及系统结构新颖简便，成本低，实用性高。

技术领域

本发明属于技术检测技术领域，尤其涉及一种针对OLED面板外观缺陷检测系统及其检测方法。

背景技术

OLED是指有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体。被称为下一代显示技术。OLED的基础是有机物发光体，成千上万个只能发出红、绿或蓝色这三者颜色之中的一种的光源被以一种特定的形式安放在屏幕的基板上，这些发光体在被施加电压的时候会发出红、绿或者蓝色，电压的变换同样需要依靠TFT，在调节三原色的比例之后，才能发出各种颜色。其在正式投入使用或被组装成成品前，都需要对其外观进行缺陷的检测，现有的检测设备价格高昂，在OLED越来越产业化的现有，检测无法得以很好的推广实现。

发明内容

本发明提供了一种OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法。

本发明的目的通过以下技术方案来实现：

OLED面板用外观缺陷检测单元的检测系统，其特征在于：包括OLED面板用外观缺陷检测单元，及与所述OLED面板用外观缺陷检测单元通过电性连接的PC，所述PC的第二控制端与待检测OLED面板电性连接，所述OLED面板用外观缺陷检测单元，包括图像采集机构，所述图像采集机构的正下方设置有用于检测的OLED面板样品，所述图像采集机构的下方依次设置有光源反射机构及暗光源出光机构，所述光源反射机构设置于所述图像采集机构采集端两侧，所述暗光源出光机构设置于所述光源反射机构的外侧，所述图像采集机构与所述光源反射机构之间还设置有一第二图像采集机构，所述第二图像采集机构的采集端设置有一半透半反射机构，所述半透半反射机构设置于所述图像采集机构的正下方。

优选地，所述光源反射机构为光源反射镜，且两个所述光源反射镜近端距离大于所述光源反射镜远端距离。

优选地，所述半透半反射机构为半透半反射镜，且所述半透半反射镜与所述图像采集机构及第二图像采集机构之间均呈夹角设置。

优选地，所述图像采集机构及第二图像采集机构均包括相机、设置于相机一端的镜头。

优选地，所述相机为CCD工业相机。

优选地，所述镜头为FA工业镜头。

优选地，所述图像采集机构设置于支架上，且所述支架上设置有轨道，所述图像采集机构在所述轨道上进行上、下移动。

优选地，OLED面板用外观缺陷检测单元的检测系统的检测方法，包括如下步骤：

S1、将OLED面板放置于待检测工位；

S2、通过暗光远机构控制照亮方式以对周围环境进行调节；

S3、光源反射机构对OLED面板进行图像的首次反射接收，图像采集机构从光源反射机构以斜视的角度通过散焦测距的方法接收到光源反射机构中的图像，以此拍摄到OLED面板外观的侧视角度的缺陷；

S4、图像采集机构将采集到的图像传输至PC，进行分析存储；

S5、半透半反射机构对OLED面板进行首次的反射接收，第二图像采集机构对半透半反射机构中接收到的图像进行拍摄，并将其图像信息传输至PC进行分析存储。

优选地，所述的OLED用外观缺陷检测单元的检测系统的检测方法，包括如下步骤：