[发明专利]LED光源测试方法

说明书

本发明提供一种LED光源测试方法，其用于测试治具上测试电路板上LED光源，藉由一光学成像模块、一电连接该光学成像模块的光源成像分析模块、一电连接该光学成像分析模块的成像图片处理模块、及一电连接该成像图片处理模块的测试结果显示模块来实施，包括以下步骤：（A）根据电路板上的LED光源的开通顺序,该光学成像模块依次扫描这些LED光源,该LED光源接通的先后顺序由该ICT测试治具的测试程序设定；（B）该光源成像分析模块依次分析由该光学成像模块所得的扫描结果并生成对应的图片；（C）该成像图片处理模块依次处理由该光源成像分析模块生成的图片并生成对应的分析结果；（D）该测试结果显示模块依次显示由该成像图片处理模块生成的分析结果。

技术领域

本发明涉及一种LED光源测试方法，特别是一种采用光学成像模块可以对多路LED进行测试的LED光源测试方法。

背景技术

目前MB（Main Board，主机板）/SB（System Board，系统板）上LED（Light EmittingDiode，发光二极管）元件的亮度与颜色的测试在ICT（In Circuit Test,在线电路测试）治具上已运用得十分广泛。其常用测试用模块分单体测试模块与8合1测试模块。其中，单体测试模块只能测试一路LED光源，8合1测试模块提供8路单独LED光源输入测试端口。单体测试模块使用灵活，但是成本较高，不适合多路LED光源测试。8合1测试模块不适合少数量的LED光源测试，常常有许多端口闲置未使用。当要求测试的LED光源超过一定数量时，需要不断增加测试模块，但ICT治具上空间有限，这样会造成设计、使用、维护困难。

有鉴于此，本发明提供一种采用光学成像模块可以对多路LED光源进行测试的LED光源测试方法。

发明内容

本发明要解决的技术问题是在于提供一种可以对多路LED光源进行测试的LED光源测试方法,其设计简单、成本低。

为解决上述技术问题，本发明LED光源测试方法，藉由一光学成像模块、一电连接该光学成像模块的光源成像分析模块、一电连接该光学成像分析模块的成像图片处理模块、及一电连接该成像图片处理模块的测试结果显示模块来实施，该LED光源测试方法包括以下步骤：

（A）根据电路板上的LED光源的开通顺序,该光学成像模块依次扫描这些LED光源, 该LED光源接通的先后顺序由该ICT测试治具的测试程序设定；

（B）该光源成像分析模块依次分析由该光学成像模块所得的扫描结果并生成对应的图片；

（C）该成像图片处理模块依次处理由该光源成像分析模块生成的图片并生成对应的分析结果；

（D）该测试结果显示模块依次显示由该成像图片处理模块生成的分析结果。

优选地，所述光源成像分析模块是将已扫描LED光源的亮度和颜色信息处理成图片形式，一路光源生成一张图片。

优选地，所述成像图片处理模块是将扫描的图片通过软件分析得出对应LED光源颜色和亮度的计算值，并分别与预设的颜色和亮度的范围值比较，如果分析所得该计算值在预设的范围值内，则LED光源测试结果为合格，反之则结果为不合格。

优选地，所述测试结果显示模块有一显示屏幕，将LED光源测试结果以“合格”或者“不合格”形式显示在该显示屏幕上。

相较于现有技术，本发明LED光源测试方法，采用光学成像模块，集中对单路或多路LED光源进行信号处理，不限制输入(支路)端口的数量，按照LED光源产生的顺序，统一由一光源分析模块处理，经计算机软件分析对应LED光源的成像图片，得到对应LED光源的颜色和亮度的计算值，并分别与预设的颜色和亮度的范围值比较，从而达到对LED颜色和亮度的测试目的，本发明所用LED测试系统不用占用ICT治具的测试点数资源，不需要对多路LED测试再增加额外的测试模块，设计简单，所需成本低。

【附图说明】