[发明专利]测试装置和测试方法有效

专利信息
申请号: 201810021725.7 申请日: 2018-01-10
公开(公告)号: CN109286427B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 科比特·罗威尔;樊尚·阿巴迪 申请(专利权)人: 罗德施瓦兹两合股份有限公司
主分类号: H04B7/0408 分类号: H04B7/0408;H04B7/06
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 丁文蕴;张敬强
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置 方法
【说明书】:

一种用于测试被测设备的测试装置,所述测试装置包括:包含了数个反射器以及数个测试天线的测试天线系统,用于经由反射器来向被测设备发出测试信号和/或测量被测设备向反射器发出的测量信号;用于与被测设备进行通信的链路天线;用于承载链路天线并以可控方式围绕被测设备移动该链路天线的机械天线定位结构,其中对于被测试天线系统占用的被测设备周围的链路天线的位置,该测试天线系统模拟该链路天线,并且/或者该链路天线和/或附加天线经由至少一个反射器来与被测设备进行通信。

技术领域

发明涉及用于测试被测设备的测试装置。本发明进一步涉及相应的测试方法。

背景技术

尽管原则上适用于任何无线测试系统,但在下文中将会结合无线设备的波束成形测试来描述本发明及其根本问题。

在现代无线通信系统中,单个设备之间的通信是通过波束成形或波束控制来进行优化的。

由此,在开发或生产用于此类通信系统的设备时,有必要全面测试设备的波束控制能力,以便符合通信标准和法规。

特别地,对于波束成形设备来说,由此有必要将测试天线安置在相应的被测设备周围的多个不同位置。

在这个背景之下,本发明的所要解决的问题是提供一种用于具有波束成形能力的设备的通用测试设备。

发明内容

通过根据本发明的测试装置以及根据本发明的测试方法来解决这个问题的。

相应地,所提供的是:

-一种用于测试被测设备的测试装置,该测试装置包括:包含了数个(也就是一个或多个)反射器以及数个(也就是一个或多个)测试天线的测试天线系统,用于经由反射器来向被测设备发出测试信号和/或测量被测设备向反射器发出的测量信号;用于与被测设备进行通信的链路天线;以及承载链路天线并以可控方式围绕被测设备移动该链路天线的机械天线定位结构,其中对于被测试天线系统占用的被测设备周围的链路天线的位置,该测试天线系统模拟该链路天线,并且/或者该链路天线和/或附加天线经由至少一个反射器来与被测设备进行通信。

进一步提供的是:

-一种用于测试被测设备的测试方法,该测试方法包括:通过测试天线系统,借助数个(也就是一个或多个)反射器来向被测设备发出测试信号,和/或测量被测设备向反射器发出的信号,所述测试天线系统包括所述反射器以及数个(也就是一个或多个)测试天线,使用链路天线来与被测设备进行通信,使用机械天线定位结构来承载链路天线,并以可控的方式围绕所述被测设备移动该链路天线,以及对于被测试天线系统占用的被测设备周围的链路天线的位置,使用测试天线系统来模拟链路天线,并且/或者借助链路天线和/或附加天线并经由至少一个反射器来与被测设备进行通信。

如上所述,对于波束成形设备来说,测量源自多个不同位置的设备放射性或是核实受到依照不同波束成形配置的RF信号影响的被测设备行为是非常重要的。特别地,本发明基于这样一个事实,那就是波束成形设备将会包含具有朝着期望方向的主波瓣以及具有朝着其他方向的多个旁波瓣的天线图。

由此,为了实现此类波束成形设备的兼容性测量,不但有必要对主波瓣进行测量,而且还要测量被测设备产生的旁波瓣,或是使用从并不是主波瓣方向的方向发出的测试信号来对被测设备的行为进行测试。更进一步,这些测量必须为被测设备的所有或者至少多个可能的波束控制配置执行。作为示例,被测设备可以包括测量模式。在该模式中,测试信号可被发射到被测设备,例如借助测试天线系统、也就是借助测试天线和反射器来发射。应当理解的是,一个天线和一个反射器或是多个天线与多个反射器的任何组合都是可能的。

由此,本发明提供了一种链路天线,所述天线提供了连至被测设备的通信链路。由此,该被测设备会将主波瓣聚焦到链路天线上,以便建立通信链路或保持通信链路。更进一步,作为示例,借助链路天线的通信链路可以用于向被测设备指示链路天线的位置,并且由此指示所需要的波束控制参数。

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