[发明专利]烹饪器具控制方法和烹饪器具

说明书

本发明公开一种烹饪器具控制方法和烹饪器具，其中，所述烹饪器具包括至少两个设于同一等温区中的感温器件；所述烹饪器具控制方法包括以下步骤：同步获取同一所述等温区中各所述感温器件所测量的温度采样信号；获取所述等温区中所述温度采样信号的空间离散程度；根据所述空间离散程度和所述温度采样信号，获取所述烹饪器具的温度检测值。本发明技术方案提高了烹饪器具温度检测的准确性。

技术领域

本发明涉及温度控制技术领域，特别涉及一种烹饪器具控制方法和烹饪器具。

背景技术

温度控制技术在烹饪器具中是非常关键的技术，为了提高烹饪器具中温度控制的准确性，首先需要对烹饪器具的温度进行准确的检测，具体的，可以通过设置多个感温器件的方式，以实现多点测温，增大温度的采集范围，实现对烹饪器具温度的全面监控。然而，由于烹饪过程中感温器件自身性能的不稳定、或锅具放置位置的偏差等因素，导致在不同的位置所采集的温度存在差异，影响了烹饪器具温度检测的准确性。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种烹饪器具控制方法，旨在解决上述多点测温存在差异的技术问题，提高烹饪器具温度检测的准确性。

为实现上述目的，本发明提出的烹饪器具控制方法，所述烹饪器具包括至少两个设于同一等温区中的感温器件；

所述烹饪器具控制方法包括以下步骤：

同步获取同一所述等温区中各所述感温器件所测量的温度采样信号；

获取所述等温区中所述温度采样信号的空间离散程度；

根据所述空间离散程度和所述温度采样信号，获取所述烹饪器具的温度检测值。

优选地，在同步获取同一所述等温区中各所述感温器件所测量的温度采样信号的步骤之前，所述烹饪器具控制方法还包括以下步骤：

获取各所述感温器件的位置；

根据所述感温器件的位置，将所述感温器件划分至相应的等温区中。

优选地，获取所述等温区中所述温度采样信号的空间离散程度的步骤包括：

获取在同一采样时刻、所述等温区中各所述温度采样信号的温度采样值；

计算所有所述温度采样值的算术平均值，记为第一空间平均值；

根据各所述温度采样值减所述第一空间平均值的差的绝对值，计算所述等温区中所述温度采样信号的空间离散程度。

优选地，根据所述空间离散程度和所述温度采样信号，获取所述烹饪器具的温度检测值的步骤包括：

按照预设采样间隔，比对在同一所述采样时刻，各所述温度采样值减所述第一空间平均值的差的绝对值和第一预设差值；

当在同一所述采样时刻，各所述温度采样值减所述第一空间平均值的差的绝对值均小于或等于第一预设差值时，累积一次第一采样数目；

比对连续累积的所述第一采样数目和第一预设数目；

当连续累积的所述第一采样数目大于或等于第一预设数目时，获取所述等温区中各所述感温器件所测量的温度采样信号；

获取在检测时刻、所述等温区中各所述温度采样信号的温度采样值；

计算在检测时刻、所述等温区中所有所述温度采样值的算术平均值，记为所述烹饪器具的温度检测值。

优选地，获取在检测时刻、所述等温区中各所述温度采样信号的温度采样值的步骤包括：

获取在采样时段内、所述等温区中各所述温度采样信号的时间变化率；