[发明专利]降低土壤修复中污染物异常特高值影响的方法及系统

说明书

本发明提供了一种降低土壤修复中污染物异常特高值影响的方法及系统，该方法包括以下步骤：获取原始采样数据，对原始数据进行分析，划定特高值边界，对高于特高值边界的数值进行调整以降低到该特高值边界值；将上述调整后的数据进行求对数处理；对初步修正后的数据进行插值处理；对插值后的图形再次进行空间滤波实现图形修正；利用修复值作为阈值对修正后的图形进行修复范围划定，高于修复值的确定为所需修复区域。本发明能够降低图形上的特高异常点对周围区域的影响，大大提高划定的污染范围的准确度，以此来有效控制污染范围，修正后的模型能够较好的拟合真实的污染体修复范围，大大减少了为确定修复边界面临的环境风险和经济损失。

技术领域

本发明涉及土壤污染修复领域与计算机软件开发领域，尤其涉及一种降低土壤修复中污染物异常特高值影响的方法及系统。

背景技术

近年来，工业污染场地引起的环境问题日益凸显，对人类健康和生态环境产生了严重威胁，并显著影响了土地和地下水资源的安全使用。随着我国产业结构调整的退二进三政策的逐步推进，许多城市内工业企业相继关停或转迁，遗留了大量的工业污染场地。基于风险的污染场地评价能够对场地潜在危害进行识别，为场地管理与修复提供科学的决策支持，目前已逐渐成为污染场地管控的主要手段。我国于2014年颁布的《污染场地风险评估技术导则》(HJ25.3-2014)为污染场地土壤风险控制值的确定提供了依据，但在具体工程实践中对于如何根据所确定的修复目标值划定土壤修复边界和估算修复量尚缺乏科学性。修复边界划定得不准确，待修复土方量定的过低或过高会导致修复工作面临环境风险或经济损失。

传统的修复面积的确定主要有两种方法，一种是基于采样点控制范围进行修复面积的计算，该方法实际应用较为简单。在修复值已确定的情况下，通过对单个采样点进行分析，对比检测值与修复值，确定采样数据是否超标，以单采样点控制范围进行求和，进而得到总的修复范围。另一种方法是直接对原始采样数据进行空间插值，利用修复值作为阈值，进而划定修复区域。然而这两种方法都存在一定的局限性，前者忽视了污染体属性在空间上是连续变化的特点，而后者则未考虑到部分特高值对最终模型的影响，故划定的区域扩大或缩小了实际的修复范围，

发明内容

本发明的目的在于提供一种降低土壤修复中污染物异常特高值影响的方法及系统，旨在用于解决现有的土壤修复面积确定方法未考虑到部分特高值对最终模型的影响的问题。

本发明是这样实现的：

一方面，本发明提供一种降低土壤修复中污染物异常特高值影响的方法，包括以下步骤：

获取原始采样数据，对原始数据进行分析，划定特高值边界，对高于特高值边界的数值进行调整以降低到该特高值边界值；

将上述调整后的数据进行求对数处理；

对初步修正后的数据进行插值处理；

对插值后的图形再次进行空间滤波实现图形修正；

利用修复值作为阈值对修正后的图形进行修复范围划定，高于修复值的确定为所需修复区域。

进一步地，所述划定特高值边界具体采用以下方法：

用平均值加上一定倍数的标准差作为特高值边界，公式如下：

W＝Wavg+Wstd*n ①

公式中，Wavg为场地范围内污染物检测值的平均值，Wstd为场地范围内污染物检测值的标准差，n为标准差系数，W即为确定的特高值边界。

进一步地，所述将上述调整后的数据进行求对数处理之后，还包括：观察处理结果后的数据分布形态，数据总体呈正态分布时即满足要求，若不满足，返回到式①中调整n值再次进行处理。

进一步地，所述对初步修正后的数据进行插值所采用的插值方法包括：克里金插值方法和反距离权重插值方法。